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一种具有低漏电的LDMOS及制备方法

申请号: CN202311824667.9
申请人: 深圳天狼芯半导体有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种具有低漏电的LDMOS及制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311824667.9
申请日 2023/12/28
公告号 CN117476773A
公开日 2024/1/30
IPC主分类号 H01L29/78
权利人 深圳天狼芯半导体有限公司
发明人 蔡文哲
地址 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋裙楼904-905

摘要文本

深圳天狼芯半导体有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明提供一种具有低漏电的LDMOS及制备方法,该LDMOS包括:异质结衬底;所述异质结衬底包括基底和N+缓冲层;所述基底位于所述N+缓冲层下方并与所述N+缓冲层邻接;所述N+缓冲层位于漂移层与基底之间并与所述漂移层和体区邻接,本发明将传统的硅衬底替换为了禁带宽度更高、导热性能更好的材料,例如碳化硅材料,因为第三代半导体材料碳化硅具有带隙宽、击穿场强高、热导率高、饱和电子迁移速率高、物理化学性能稳定等特性,可适用于高温,高频环境,碳化硅具有更大的禁带宽度和更高的临界击穿场强,并且本发明在碳化硅层上方引入了N型重掺杂层作为缓冲层,N+掺杂层能够形成一个电子阱,从而进一步减弱衬底端的漏电现象,降低器件整体的热效应。

专利主权项内容

更多数据:搜索马克数据网来源: 1.一种具有低漏电的LDMOS,其特征在于,包括:异质结衬底;所述异质结衬底包括基底和N+缓冲层;所述基底位于所述N+缓冲层下方并与所述N+缓冲层邻接;所述N+缓冲层位于漂移层与基底之间并与所述漂移层和体区邻接。