← 返回列表

基于磁场分析的设备电磁干扰降低方法、系统及介质

申请号: CN202311477366.3
申请人: 深圳市赛盛技术有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 基于磁场分析的设备电磁干扰降低方法、系统及介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202311477366.3
申请日 2023/11/7
公告号 CN117435871A
公开日 2024/1/23
IPC主分类号 G06F18/15
权利人 深圳市赛盛技术有限公司
发明人 蒋万良; 林炽贺; 石光其
地址 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南七道018号高新工业村R3-B栋01层302

摘要文本

深圳市赛盛技术有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明提供一种基于磁场分析的设备电磁干扰降低方法,该方法包括:将周边磁场信号划分为奇序列信号和偶序列信号,利用奇序列信号和偶序列信号计算周边磁场信号中的第一细节信号,利用细节信号和偶序列信号计算周边磁场信号中的第一逼近信号;构建设备的无干扰磁场信号,构建无干扰磁场信号的外界干扰信号,分析在无干扰磁场信号中加入外界干扰信号之后的含干扰磁场信号,计算含干扰磁场信号中的第二细节信号和第二逼近信号;计算第一细节信号与第二细节信号之间的细节相关性;基于细节相关性与逼近相关性,对周边磁场信号进行电磁干扰降低,得到设备的电磁干扰降低结果。本发明可以提升设备电磁干扰过程实现的简便性。 (来 自 专利查询网)

专利主权项内容

1.一种基于磁场分析的设备电磁干扰降低方法,其特征在于,包括以下步骤:采集设备的周边磁场信号,其中,所述周边磁场信号包括电磁信号和干扰信号;将所述周边磁场信号划分为奇序列信号和偶序列信号,利用所述奇序列信号和所述偶序列信号计算所述周边磁场信号中的第一细节信号,并利用所述细节信号和所述偶序列信号计算所述周边磁场信号中的第一逼近信号;构建所述设备的无干扰磁场信号,构建所述无干扰磁场信号的外界干扰信号,分析在所述无干扰磁场信号中加入所述外界干扰信号之后的含干扰磁场信号,并计算所述含干扰磁场信号中的第二细节信号和第二逼近信号;计算所述第一细节信号与所述第二细节信号之间的细节相关性,并计算所述第一逼近信号与所述第二逼近信号之间的逼近相关性;基于所述细节相关性与所述逼近相关性,对所述周边磁场信号进行电磁干扰降低,得到所述设备的电磁干扰降低结果。