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一种刚性PCB金属孔嵌铜结构视觉检测系统

申请号: CN202311652332.3
申请人: 深圳市中络电子有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种刚性PCB金属孔嵌铜结构视觉检测系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202311652332.3
申请日 2023/12/5
公告号 CN117372426A
公开日 2024/1/9
IPC主分类号 G06T7/00
权利人 深圳市中络电子有限公司
发明人 李晓知
地址 广东省深圳市坪山区坑梓街道秀新社区牛昇路5号中络厂H101

摘要文本

深圳市中络电子有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种刚性PCB金属孔嵌铜结构视觉检测系统。该系统包括:采集印刷电路板图像,根据印刷电路板图像,获取疑似金属孔区域,计算疑似金属孔区域的嵌铜特征指数,确定金属孔嵌铜结构,获取缝隙连接线,计算金属孔嵌铜结构的环状空隙间隔指数和环状孔隙倾斜度,结合金属孔嵌铜结构的嵌铜特征指数,获取电路板缺陷程度,将印刷电路板的缺陷程度划分为无缺陷、轻度、中度和重度四个等级。本发明旨在解决印刷电路板上包含许多复杂的电路元件、线路和焊接点等导致现有的缺陷检测技术难以对刚性PCB金属孔嵌铜结构进行缺陷检测的问题。 来自马-克-数-据

专利主权项内容

来自:马 克 团 队 1.一种刚性PCB金属孔嵌铜结构视觉检测系统,其特征在于,所述系统包括以下模块:印刷电路板图像采集模块,用于获取包含金属孔嵌铜结构的印刷电路板图像;金属孔嵌铜结构获取模块,用于根据印刷电路板图像,获取印刷电路板二值图像和疑似金属孔区域;根据疑似金属孔区域,获取圆周圆环、内侧圆环以及外侧圆环;根据圆周圆环、内侧圆环以及外侧圆环,计算疑似金属孔区域的嵌铜特征指数;根据疑似金属孔区域的嵌铜特征指数,确定金属孔嵌铜结构;环状空隙间隔指数获取模块,用于根据金属孔嵌铜结构和印刷电路板二值图像,获取铜块边缘点和金属孔边缘点;根据铜块边缘点和金属孔边缘点获取缝隙连接线,结合金属孔嵌铜结构内部所有像素点的灰度值,计算缝隙连接线的缝隙间隔指数;根据金属孔嵌铜结构内部所有缝隙连接线的缝隙间隔指数,获取金属孔嵌铜结构的环状空隙间隔指数;环状孔隙倾斜度获取模块,用于根据金属孔嵌铜结构内部所有缝隙连接线的缝隙间隔指数,获取金属孔嵌铜结构的环状孔隙倾斜度;电路板缺陷检测模块,用于根据金属孔嵌铜结构的嵌铜特征指数、环状孔隙倾斜度和环状空隙间隔指数,获取电路板缺陷程度,将印刷电路板的缺陷程度划分为无缺陷、轻度、中度和重度四个等级。