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一种低温轨道定位测试装置及测试方法
申请人信息
- 申请人:深圳市诺泰芯装备有限公司
- 申请人地址:518100 广东省深圳市宝安区沙井街道和一社区沙井万丰华丰创业园厂房1栋四层D座南侧
- 发明人: 深圳市诺泰芯装备有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种低温轨道定位测试装置及测试方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311601785.3 |
| 申请日 | 2023/11/28 |
| 公告号 | CN117471285A |
| 公开日 | 2024/1/30 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 深圳市诺泰芯装备有限公司 |
| 发明人 | 王体 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区沙井街道和一社区沙井万丰华丰创业园厂房1栋四层D座南侧 |
摘要文本
深圳市诺泰芯装备有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本发明公开了一种低温轨道定位测试装置及测试方法，涉及芯片低温测试技术领域，包括保温箱体，所述保温箱体的底侧壁上安装有第一定位轨道板，所述第一定位轨道板的一侧通过固定架安装有导温板，所述导温板的一侧安装有控温单元，所述第一定位轨道板上远离所述导温板的一侧开设有第一滑槽。本发明中，利用低温载冷液传送至导液孔进行热传导制冷，第一定位轨道板为垂直状态放置，并构成待测芯片定向移动的导向通道，产品受自身重力作用依次向下移动，限位组件对待测芯片进行定位，随后检测组件与待测芯片的引脚相接触并完成检测，实现芯片产品测试是在轨道温腔内测试，避免产品在转移过程温度波动大，同时减少待测芯片的转移步骤，过程更加简洁。
专利主权项内容
1.一种低温轨道定位测试装置，包括保温箱体(1)，其特征在于：所述保温箱体(1)的底侧壁上安装有第一定位轨道板(2)，所述第一定位轨道板(2)的一侧通过固定架(16)安装有导温板(21)，所述导温板(21)的一侧安装有控温单元，所述第一定位轨道板(2)上远离所述导温板(21)的一侧开设有第一滑槽(25)，所述第一定位轨道板(2)上靠近所述第一滑槽(25)的一侧安装有第二定位轨道板(3)，所述第二定位轨道板(3)的一侧对应开设有第二滑槽，所述第二滑槽与所述第一滑槽(25)相互匹配并形成一个类T形定位滑道(19)，所述类T形定位滑道(19)的一侧安装有限位组件，所述保温箱体(1)的内侧壁上安装有检测组件，所述检测组件的检测端与所述限位组件的位置相对应。。马 克 数 据 网