半导体器件测试装置及方法

专利主权项内容

1.一种半导体器件测试装置，包括防护外壳(100)、NPN型三极管(600)和显示屏(700)，其特征在于，还包括：旋转组件(200)，所述旋转组件(200)套设于防护外壳(100)的中部；测量组件(300)，所述测量组件(300)固接于防护外壳(100)的内部；定位组件(400)，所述定位组件(400)设置于旋转组件(200)顶部；上料组件(500)，所述上料组件(500)活动连接于防护外壳(100)远离测量组件(300)一侧；所述旋转组件(200)包括套设于防护外壳(100)中部的圆筒(201)和绝缘盘(202)，还包括：固接于绝缘盘(202)一侧的第一铜片(203)和第二铜片(204)，并且圆筒(201)旋转时带动绝缘盘(202)旋转；等距离固接于防护外壳(100)中部的连接件(205)；所述定位组件(400)包括弹性连接于圆筒(201)顶部的弹性凸块(401)，所述防护外壳(100)的外部开设有四个半圆槽(402)，所述弹性凸块(401)随圆筒(201)旋转时，逐个与半圆槽(402)配合；其中，所述防护外壳(100)的内部活动连接有支撑台(501)用于放置NPN型三极管(600)；初始时，所述弹性凸块(401)位于第一个半圆槽(402)中，并且NPN型三极管(600)上的基极通过连接件(205)与第一铜片(203)连接，所述NPN型三极管(600)上的集电极通过另一个连接件(205)与第二铜片(204)连接；所述弹性凸块(401)随圆筒(201)旋转卡入至第二个半圆槽(402)中时，NPN型三极管(600)上的基极通过连接件(205)与第一铜片(203)保持连接，并且NPN型三极管(600)上的发射极通过连接件(205)与第二铜片(204)连接；所述弹性凸块(401)随圆筒(201)旋转卡入至第三个半圆槽(402)中时，NPN型三极管(600)上的集电极通过连接件(205)与第一铜片(203)连接，并且NPN型三极管(600)上的基极通过连接件(205)与第二铜片(204)连接；所述弹性凸块(401)随圆筒(201)旋转卡入至第四个半圆槽(402)中时，NPN型三极管(600)上的发射极通过连接件(205)与第一铜片(203)连接，并且NPN型三极管(600)上的基极通过连接件(205)与第二铜片(204)保持连接；所述第一铜片(203)和第二铜片(204)分别与测量组件(300)上的正极和负极连接。