一种智能手机面板表面缺陷检测方法

专利主权项内容

1.一种智能手机面板表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取智能手机面板表面灰度图像；根据智能手机面板表面灰度图像中各个像素点的像素坐标以及灰度值进行聚类分析，得到至少两个初始像素点聚类簇；根据每个像素点的局部邻域灰度差异，得到每个像素点的邻域灰度影响程度；根据各个初始像素点聚类簇中的像素点数量，将所有初始像素点聚类簇划分为待合并像素点聚类簇和归并像素点聚类簇；将待合并像素点聚类簇中的像素点作为待合并像素点；根据每个待合并像素点与每个归并像素点聚类簇中的像素点之间的邻域影响程度差异和灰度差异，以及每个待合并像素点与所处待合并像素点聚类簇中所有像素点之间的灰度整体偏离情况，得到每个待合并像素点与每个归并像素点聚类簇之间的参考距离权重；根据所述参考距离权重，以及每个待合并像素点与每个归并像素点聚类簇的聚类中心之间的距离进行聚类分析，得到至少两个调整像素点聚类簇；根据各个调整像素点聚类簇的像素点数量，分割出智能手机面板表面灰度图像的缺陷区域；所述参考距离权重的获取方法包括：将每个待合并像素点的灰度值与其所处待合并像素点聚类簇中所有像素点的灰度值均值之间的差异，作为每个待合并像素点的参考灰度偏差；将所述参考灰度偏差与对应的待合并像素点聚类簇中所有像素点的灰度值均值之间的比值，作为每个待合并像素点的灰度标准偏差值；根据每个待合并像素点与指向每个归并像素点聚类簇方向上像素点之间的局部灰度差异，得到每个待合并像素点与每个归并像素点聚类簇之间的灰度差异特征值；根据每个待合并像素点与每个归并像素点聚类簇中像素点之间的局部邻域灰度影响程度，得到每个待合并像素点与每个归并像素点聚类簇之间的邻域影响差异特征值；根据所述灰度标准偏差值、所述灰度差异特征值和所述邻域影响差异特征值，得到每个待合并像素点与每个归并像素点聚类簇之间的参考距离权重，所述灰度标准偏差值与所述参考距离权重呈正相关关系，所述灰度差异特征值和所述邻域影响差异特征值均与所述参考距离权重呈负相关关系；所述灰度差异特征值的获取方法包括：依次将每个待合并像素点作为目标待合并像素点；依次将每个归并像素点聚类簇作为目标归并像素点聚类簇；在目标待合并像素点指向目标归并像素点聚类簇的聚类中心方向上，将与目标待合并像素点距离最近的预设第二数量个像素点，作为目标归并像素点聚类簇中的对比归并像素点；将所有对比归并像素点的灰度值均值与所述目标待合并像素点的灰度值之间的差异，作为目标待合并像素点与目标归并像素点聚类簇之间的灰度差异特征值；所述邻域影响差异特征值的获取方法包括：将所有对比归并像素点的邻域灰度影响程度的均值与所述目标待合并像素点的邻域灰度影响程度之间的差异，作为目标待合并像素点与目标归并像素点聚类簇之间的邻域影响差异特征值；所述根据所述灰度标准偏差值、所述灰度差异特征值和所述邻域影响差异特征值，得到每个待合并像素点与每个归并像素点聚类簇之间的参考距离权重的方法包括：将所述邻域影响差异特征值与所述灰度标准偏差值的乘积，作为参考乘积；将所述参考乘积与预设调节参数的和值，作为参考和值；将所述灰度差异特征值与所述参考和值的比值，作为每个待合并像素点与每个归并像素点聚类簇之间的参考距离权重。