一种天线射频通路状态的检测方法及装置
申请人信息
- 申请人:深圳捷扬微电子有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路南侧长富金茂大厦1号楼2108
- 发明人: 深圳捷扬微电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种天线射频通路状态的检测方法及装置 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311730878.6 |
| 申请日 | 2023/12/15 |
| 公告号 | CN117411570B |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | H04B17/15 |
| 权利人 | 深圳捷扬微电子有限公司 |
| 发明人 | 丁杰伟; 赵少华; 黄源良; 陈煊; 张为民 |
| 地址 | 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路南侧长富金茂大厦1号楼2108 |
摘要文本
深圳捷扬微电子有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本发明公开了一种天线射频通路状态的检测方法及装置，该检测方法包括以下步骤：S1：获取当前射频通路在多个不同的预设频点上发射并接收的信号的幅度和/或相位，根据获取的多个信号的幅度和/或相位，得到当前射频通路的频率响应特征函数；S2：将当前射频通路的频率响应特征函数与频率响应特征函数模型进行比较，根据比较结果，确定当前射频通路的状态；其中，所述频率响应特征函数模型中至少包含：根据射频通路中发射和接收通路都正常的状态下在各个不同的预设频点上发射并接收的信号的幅度和/或相位，得到的频率响应特征标定函数。本发明能够在不增加测试设备和测试模块的前提下，方便地判断射频通路是否正常。
专利主权项内容
1.一种天线射频通路状态的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取当前射频通路在多个不同的预设频点上发射并接收的信号的幅度和/或相位，根据获取的多个信号的幅度和/或相位，得到当前射频通路的频率响应特征函数；S2：将当前射频通路的频率响应特征函数与频率响应特征函数模型进行比较，根据比较结果，确定当前射频通路的状态；其中，所述频率响应特征函数模型中至少包含：根据射频通路中发射和接收通路都正常的状态下在各个不同的预设频点上发射并接收的信号的幅度和/或相位，得到的频率响应特征标定函数；其中，步骤S2具体包括：计算当前射频通路的频率响应特征函数与射频通路中发射和接收通路都正常的状态下的频率响应特征标定函数的绝对差值，如果绝对差值小于第一阈值，则当前射频通路的发射和接收通路都正常；或者，计算当前射频通路的频率响应特征函数与射频通路中发射和接收通路都正常的状态下的频率响应特征标定函数的归一化相关值，如果归一化相关值大于第二阈值，则当前射频的发射和接收通路都正常；或者，将当前射频通路的频率响应特征函数减去当前射频通路各个不同的预设频点的频率响应特征函数的平均值得到当前射频通路的第一特征函数，将射频通路中发射和接收通路都正常的状态下的频率响应特征标定函数减去射频通路中发射和接收通路都正常的状态下的各个不同的预设频点的频率响应特征标定函数的平均值得到射频通路中发射和接收通路都正常的状态下的第一特征标定函数，计算所述第一特征函数与所述第一特征标定函数的归一化相关值，如果归一化相关值大于第三阈值，则当前射频的发射和接收通路都正常。