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高精度逐次逼近型SARADC中的数字校准方法、装置以及模数转换器
申请人信息
- 申请人:隔空微电子(深圳)有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区桃花路与槟榔道交汇处西北深九科技创业园5号楼207D
- 发明人: 隔空微电子(深圳)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 高精度逐次逼近型SARADC中的数字校准方法、装置以及模数转换器 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311424978.6 |
| 申请日 | 2023/10/30 |
| 公告号 | CN117560001A |
| 公开日 | 2024/2/13 |
| IPC主分类号 | H03M1/10 |
| 权利人 | 隔空微电子(深圳)有限公司 |
| 发明人 | 林水洋; 刘然然; 姚宇波 |
| 地址 | 广东省深圳市福田区福保街道福保社区桃花路与槟榔道交汇处西北深九科技创业园5号楼207D |
摘要文本
隔空微电子(深圳)有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本发明提供一种高精度逐次逼近型SARADC中的数字校准方法、装置以及模数转换器，通过在下极板采样型的SARADC的分段电容阵列中引入校准流程，利用电容阵列中需要评估的各分段电容的所有低位分段电容，按照从低位到高位的顺序依次对需要评估的电容进行实际权重评估，并在进行模数转换期间，利用各分段电容的实际权重对各位分段电容进行补偿校准。本发明能够消除半导体工艺随机失配引起的电容器件失配对SARADC性能的影响，提高逐次逼近型SARADC的精度，进而拓宽SARADC的可应用范围。
专利主权项内容
（更多数据，详见马克数据网） 1.一种高精度逐次逼近型SARADC中的数字校准方法，其特征在于，应用于14bit精度的SARADC，其采用分段结构的电容阵列，该电容阵列包括：在LSB段以及MSB段中从低到高位依次设置的多个分段电容，所述方法包括：利用电容阵列中需要评估的各分段电容的所有低位分段电容，按照从低位到高位的顺序依次对需要评估的各分段电容进行实际权重评估；在进行模数转换期间，利用各分段电容的实际权重对各位分段电容进行补偿校准。