一种手机主板性能测试方法和系统
申请人信息
- 申请人:深圳市英迈通信技术有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市福田区车公庙天安创新科技广场B座1108
- 发明人: 深圳市英迈通信技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种手机主板性能测试方法和系统 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311798611.0 |
| 申请日 | 2023/12/26 |
| 公告号 | CN117459625B |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | H04M1/24 |
| 权利人 | 深圳市英迈通信技术有限公司 |
| 发明人 | 刘春明; 沈娟 |
| 地址 | 广东省深圳市福田区车公庙天安创新科技广场B座1108 |
摘要文本
深圳市英迈通信技术有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本申请涉及手机安全技术领域，提供一种手机主板性能测试方法和系统，方法包括：获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；根据预设的规定跳数，确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离；根据第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离及各参考电子元件的个数，分别确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件各自的接近中心性。本申请提高了计算主板拓扑中边界电子元件的重要性，提高了手机性能。
专利主权项内容
1.一种手机主板性能测试方法，其特征在于，包括：获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；所述至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件；根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离；根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性；所述根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，包括：根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别使用公式(1)计算所述第一关键边界电子元件的接近中心性，及所述第二关键边界电子元件的接近中心性；
公式(1)；其中，表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，表示主板拓扑中的电子元件总数，/>表示各所述参考电子元件的个数，/>表示电子元件/>到参考电子元件/>的最短距离。