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烟支外观缺陷影响因素确定方法、系统、存储介质及终端

申请号: CN202311778060.1
申请人: 深圳市鸿云智科技有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 烟支外观缺陷影响因素确定方法、系统、存储介质及终端
专利类型 发明申请
申请号 CN202311778060.1
申请日 2023/12/22
公告号 CN117455317A
公开日 2024/1/26
IPC主分类号 G06Q10/0639
权利人 深圳市鸿云智科技有限公司
发明人 周志敏; 付新会; 付家玥; 徐学艺; 符振辉
地址 广东省深圳市福田区华强北街道华航社区红荔路上步工业区202栋南方大厦302

摘要文本

深圳市鸿云智科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开烟支外观缺陷影响因素确定方法、系统、存储介质及终端。基于多根缺陷烟支确定外观缺陷类型,基于外部工况环境确定影响外观缺陷的因素。采集预设生产周期内的烟支生产总数、每一外观缺陷类型所对应的缺陷烟支总数、每一因素作用阶段的阶段性烟支生产总数。确定外观缺陷发生的概率。确定因素存在影响的概率。确定外观缺陷发生时因素存在影响的概率。确定偏好概率。以班次为单位的偏好概率的显著性分析,设置偏好概率的阈值,班次中偏好概率的实测值大于阈值的偏好概率的数量与班次中偏好概率实测值的总量的比值为某一缺陷对某一因素偏好概率的显著性值;基于显著性值确定因素对某一外观缺陷类型烟支增多的显著影响。

专利主权项内容

1.一种烟支外观缺陷影响因素确定方法,其特征在于,包括如下步骤:基于多根缺陷烟支确定外观缺陷类型,基于外部工况环境确定影响外观缺陷的因素;所述外观缺陷以及因素均包括多种;数据采集,采集预设生产周期内的烟支生产总数、每一所述外观缺陷类型所对应的缺陷烟支总数、每一因素作用阶段的阶段性烟支生产总数;确定外观缺陷发生的概率,任一所述外观缺陷类型所对应的所述缺陷烟支总数与烟支生产总数的比值为外观缺陷发生的概率;确定因素存在影响的概率,任一所述因素作用下的阶段性烟支生产总数与烟支生产总数的比值为因素存在影响的概率;确定外观缺陷发生时因素存在影响的概率,预设生产周期内任一所述外观缺陷类型所对应的缺陷烟支总数中处于某一因素作用阶段的烟支数量与对应外观缺陷类型的缺陷烟支总数的比值为外观缺陷发生时因素存在影响的概率;确定偏好概率,所述因素存在影响的概率与外观缺陷发生时因素存在影响的概率的乘积,再与外观缺陷发生的概率的比值为偏好概率;以班次为单位的偏好概率的显著性分析,设置偏好概率的阈值,班次中偏好概率的实测值大于阈值的偏好概率的数量与班次中偏好概率实测值的总量的比值为某一缺陷对某一因素偏好概率的显著性值;基于所述显著性值确定因素对某一外观缺陷类型烟支增多的显著影响。 来自马-克-数-据-官网