去反光模型的训练方法、去反光模型和去反光方法

专利主权项内容

1.一种去反光模型的训练方法，其特征在于，所述模型包括第一子模型和第二子模型；并且，所述方法包括：基于第一训练数据和第一目标数据训练所述第一子模型，得到训练后的第一子模型，其中，所述第一训练数据包括第一样本图像，所述第一样本图像的拍摄内容包括反光对象、由所述反光对象反射成像的反射对象、由所述反光对象透射成像的透射对象，并且，所述第一目标数据包括所述第一样本图像的反射对象的光照图和所述第一样本图像的透射对象的光照图，所述第一样本图像的反射对象的光照图包括所述反射对象的光强，所述第一样本图像的透射对象的光照图包括所述透射对象的光强；基于第二训练数据和第二目标数据训练所述第二子模型，得到训练后的第二子模型，其中，所述第二训练数据包括第二样本图像和所述第一目标数据，所述第二目标数据包括所述第二样本图像的反射对象的反射图像和所述第二样本图像的透射对象的透射图像，并且，所述第二样本图像的拍摄内容与所述第一样本图像的拍摄内容相同，所述第二样本图像在第一波长范围内的光强与所述第一样本图像在第一波长范围内的光强相同。