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一种芯片测试方法及系统

申请号: CN202311547879.7
申请人: 深圳市航顺芯片技术研发有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种芯片测试方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202311547879.7
申请日 2023/11/17
公告号 CN117706322A
公开日 2024/3/15
IPC主分类号 G01R31/28
权利人 深圳市航顺芯片技术研发有限公司
发明人 刘吉平; 钟佳浩; 王翔; 郑增忠
地址 广东省深圳市罗湖区莲塘街道仙湖社区益清路61号航顺芯片大厦101

摘要文本

深圳市航顺芯片技术研发有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开了一种芯片测试方法及系统,包括:单片机通过自动测试机下载待测芯片的算法程序;单片机通过在线升级电路将算法程序烧录至对应的待测芯片;单片机与在线升级电路均集成在测试负载板上;自动测试机获取待测芯片的输入输出接口的输出频率以验证算法程序是否烧录成功;其中,若是待测芯片的输入输出接口的输出频率与自动测试机的预设频率一致,则算法程序成功烧录至待测芯片上。本发明在需要更换待测芯片时,单片机通过自动测试机下载待测芯片对应的算法程序,再通过在线升级电路将算法程序下载到待测芯片中,使得不同的待测芯片可以共用一块测试负载板,不仅节省了测试负载板制作成本,且减少了工作人员的工作量。

专利主权项内容

1.一种芯片测试方法,其特征在于,包括:单片机通过自动测试机下载待测芯片的算法程序;单片机通过在线升级电路将算法程序烧录至对应的待测芯片;其中,所述单片机与所述在线升级电路均集成在测试负载板上;自动测试机获取待测芯片的输入输出接口的输出频率以验证算法程序是否烧录成功;其中,若是待测芯片的输入输出接口的输出频率与自动测试机的预设频率一致,则算法程序成功烧录至待测芯片上。