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ADC内部参考电源的校正方法、MCU芯片和存储介质
申请人信息
- 申请人:深圳市航顺芯片技术研发有限公司
- 申请人地址:518004 广东省深圳市罗湖区莲塘街道仙湖社区益清路61号航顺芯片大厦101
- 发明人: 深圳市航顺芯片技术研发有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | ADC内部参考电源的校正方法、MCU芯片和存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311582274.1 |
| 申请日 | 2023/11/22 |
| 公告号 | CN117614449A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | H03M1/10 |
| 权利人 | 深圳市航顺芯片技术研发有限公司 |
| 发明人 | 刘吉平; 瞿驰; 王翔; 郑增忠 |
| 地址 | 广东省深圳市罗湖区莲塘街道仙湖社区益清路61号航顺芯片大厦101 |
摘要文本
深圳市航顺芯片技术研发有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本发明公开了一种ADC内部参考电源的校正方法、MCU芯片和存储介质，应用在MCU芯片中，所述MCU芯片具有ADC单元，其中，所述一种ADC内部参考电源的校正方法包括步骤：所述ADC单元在所述ADC单元的内部参考电源下工作时，获取输入电压的电压值；通过所述输入电压的电压值、所述ADC单元的内部参考电源的电压值之间和所述第一采样数据之间的比例关系计算得到所述ADC单元的内部参考电源的电压值。本申请通过采样数据的方式，以及所述输入电压和所述ADC单元的内部参考电源的电压的比例关系，反推出所述ADC单元的内部参考电源的电压值，达到得到准确的ADC单元的内部参考电源的效果。
专利主权项内容
来自：马 克 团 队 1.一种ADC内部参考电源的校正方法，应用在MCU芯片中，所述MCU芯片具有ADC单元，其特征在于，包括步骤：所述ADC单元在所述ADC单元的内部参考电源下工作时，获取输入电压的电压值；所述ADC单元的采集模块通过采集通道选择器对所述输入电压进行采样，得到第一采样数据；通过所述输入电压的电压值、所述ADC单元的内部参考电源的电压值之间和所述第一采样数据之间的比例关系计算得到所述ADC单元的内部参考电源的电压值。