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一种屏幕缺损检测方法、系统及存储介质
申请人信息
- 申请人:深圳市圆周检测技术有限公司
- 申请人地址:518110 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区华宁路东龙兴科技园1号厂房101、302
- 发明人: 深圳市圆周检测技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种屏幕缺损检测方法、系统及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311814887.3 |
| 申请日 | 2023/12/27 |
| 公告号 | CN117577033A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G09G3/00 |
| 权利人 | 深圳市圆周检测技术有限公司 |
| 发明人 | 杨洪亮; 曾庆良; 何琼琼 |
| 地址 | 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区华宁路东龙兴科技园1号厂房101、302 |
摘要文本
深圳市圆周检测技术有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本发明公开了一种屏幕缺损检测方法、系统及存储介质，方法包括：获取待检测屏幕的检测图像数据；对检测图像数据内灰度值不处于第一预设阈值区间的异常像素点进行框选，得到异常图像数据；根据多次检测图像数据中相同坐标数据的异常图像数据中异常像素点的灰度比值进行分析，确定异常像素点的异常原因；当异常像素点为Mura像素点时，根据Mura像素点在多次检测图像数据中的灰度比值进行分析，确定补偿参数，并生成Mura像素点补偿模板；根据代表显示参数和Mura像素点补偿模板对下一待检测屏幕进行快速检测。本发明通过代表显示参数和所述Mura像素点补偿模板对相同批次屏幕进行缺陷检测，提高检测效率。
专利主权项内容
1.一种屏幕缺损检测方法，其特征在于，包括：获取待检测屏幕的检测图像数据；对所述检测图像数据进行预处理，得到灰度图像数据；对所述灰度图像数据内灰度值不处于第一预设阈值区间的异常像素点进行框选，得到异常图像数据；根据多次检测图像数据中相同坐标数据的异常图像数据中异常像素点的灰度比值进行分析，确定所述异常像素点的异常原因；当异常像素点为Mura像素点时，根据所述Mura像素点在多次检测图像数据中的灰度比值进行分析，确定补偿参数，并生成Mura像素点补偿模板；根据代表显示参数和所述Mura像素点补偿模板对下一待检测屏幕进行快速检测。 来自：