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一种显示面板边框的检测方法、装置和电子设备

申请号: CN202311685457.6
申请人: 深圳精智达技术股份有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种显示面板边框的检测方法、装置和电子设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202311685457.6
申请日 2023/12/11
公告号 CN117392127A
公开日 2024/1/12
IPC主分类号 G06T7/00
权利人 深圳精智达技术股份有限公司
发明人 刘勇; 杨硕; 张滨
地址 广东省深圳市龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东

摘要文本

深圳精智达技术股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本申请公开了一种显示面板边框的检测方法、装置和电子设备,用于提高显示面板边框检测的精度。本申请检测方法包括:获取标定系数、机采图像和测量图像,机采图像包括面阵拍摄图像和线扫拍摄图像;根据机采图像和标定系数在测量图像上生成待检测位置坐标,并根据待检测位置坐标在测量图像上生成若干个ROI区域;对测量图像的ROI区域进行形态学梯度处理,并进行上采样,通过双线性插值填补离散空洞信息,生成初始采样点;对初始采样点进行不同探测方向和尺度的测量,将灰度值大于第一梯度阈值且满足明暗变化的初始采用点设为目标候选点,生成目标候选点集合;根据目标候选点集合进行直线拟合,生成边框拟合直线。

专利主权项内容

1.一种显示面板边框的检测方法,其特征在于,包括:获取标定系数、机采图像和测量图像,所述机采图像包括面阵拍摄图像和线扫拍摄图像,所述面阵拍摄图像为使用面阵相机拍摄待测产品生成的图像,所述线扫拍摄图像为使用线扫相机拍摄所述待测产品生成的图像,所述测量图像为所述待测产品的拍摄图像;根据所述机采图像和所述标定系数在所述测量图像上生成待检测位置坐标,并根据所述待检测位置坐标在测量图像上生成若干个ROI区域;对所述测量图像的ROI区域进行形态学梯度处理,并进行上采样,通过双线性插值填补离散空洞信息,生成初始采样点;对所述初始采样点进行不同探测方向和尺度的测量,将灰度值大于第一梯度阈值且满足明暗变化的初始采用点设为目标候选点,生成目标候选点集合;根据所述目标候选点集合进行直线拟合,生成边框拟合直线。 搜索马 克 数 据 网