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一种笔记本电脑外壳的缺陷检测方法、缺陷检测装置和存储介质

申请号: CN202311702863.9
申请人: 深圳市英伟胜科技有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种笔记本电脑外壳的缺陷检测方法、缺陷检测装置和存储介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202311702863.9
申请日 2023/12/12
公告号 CN117635590A
公开日 2024/3/1
IPC主分类号 G06T7/00
权利人 深圳市英伟胜科技有限公司
发明人 雷晓宇; 潘效田; 李喜国; 陈建华; 余江
地址 广东省深圳市龙华区大浪街道浪口社区华兴路35号裕景泰工业园6栋2层

摘要文本

深圳市英伟胜科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明适用于图像检测的技术领域,提供了一种笔记本电脑外壳的缺陷检测方法、缺陷检测装置和存储介质,所述笔记本电脑外壳的缺陷检测方法包括:通过获取待检测物体在同一位置上,第一待检测图像和第二待检测图像。通过与标准图像进行比对,该方案能够分别提取第一待检测图像和第二待检测图像中的差异区域的目标外接矩形框。根据目标外接矩形框的位置信息,在第一待检测图像和第二待检测图像中截取第一子图像和第二子图像。通过缺陷检测模型对这些特征进行处理和分析,可以得到针对划痕、刮痕、凹凸、变形、异物和变色等缺陷类型的检测结果。总体而言,该技术方案可以实现对笔记本电脑外壳等物体的缺陷类型识别,并提高检测的精度和准确性。

专利主权项内容

1.一种笔记本电脑外壳的缺陷检测方法,其特征在于,所述笔记本电脑外壳的缺陷检测方法包括:获取待检测物体在同一位置上,顶面光源对应的第一待检测图像和侧面光源对应的第二待检测图像;所述待检测物体包括所述笔记本电脑外壳;将所述第一待检测图像和所述第二待检测图像,分别与标准图像进行比对;分别提取所述第一待检测图像和所述第二待检测图像中差异区域的目标外接矩形框;所述差异区域是指所述第一待检测图像或所述第二待检测图像与所述标准图像存在差异的区域;根据所述目标外接矩形框对应的位置信息,分别在所述第一待检测图像和所述第二待检测图像中,截取第一子图像和第二子图像;提取所述第一子图像和所述第二子图像中的差异像素点,并计算所述差异像素点对应的两个像素点之间的像素差;所述差异像素点是指所述第一子图像、所述第二子图像与标准图像中相同像素位置的像素差值大于第一阈值的像素点;根据所述差异像素点的位置和所述像素差值,形成差异图像;将所述第一待检测图像输入缺陷检测模型的第一特征提取层,将所述第二待检测图像输入缺陷检测模型的第二特征提取层,将所述差异图像输入缺陷检测模型的第三特征提取层,得到由所述缺陷检测模型输出的缺陷检测结果;所述缺陷检测结果包括划痕、刮痕、凹凸、变形、异物和变色。