← 返回列表
一种封装IC表面缺陷视觉检测方法
摘要文本
深圳宝铭微电子有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种封装IC表面缺陷视觉检测方法，包括：获取封装IC灰度图像，得到封装IC灰度图像的梯度直方图和封装IC灰度图像的灰度直方图，根据灰度直方图得到连续的灰度级区间中所有灰度级的导数，得到第一影响因素和得到第二影响因素，根据第一影响因素和第二影响因素得到灰度级均衡化后的对应的灰度级，对增强封装IC灰度图像进行缺陷检测。本发明通过对图像进行自适应增强，并对图像进行后续快速分割检测，相较于现有的快速分割检测方法，降低了引脚缺损缺陷与引脚向上弯曲的误检率，提升缺陷检测效率。
专利主权项内容
1.一种封装IC表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取封装IC灰度图像；根据封装IC灰度图像得到封装IC灰度图像的梯度直方图和封装IC灰度图像的灰度直方图；根据封装IC灰度图像和封装IC灰度图像的灰度直方图得到待增强的像素点；根据待增强的像素点和封装IC灰度图像的灰度直方图得到若干连续的灰度级区间，根据若干连续的灰度级区间得到所有连续的灰度级区间中所有灰度级的导数，根据封装IC灰度图像的梯度直方图获取待增强的像素点的梯度直方图，根据所有连续的灰度级区间中所有灰度级的导数得到第一影响因素，根据待增强的像素点的梯度直方图和连续的灰度级区间得到第二影响因素，根据第一影响因素和第二影响因素得到任意一个灰度级对应像素点的待增强概率；根据任意一个灰度级对应像素点的待增强概率得到均衡化后的对应的灰度级，根据均衡化后的对应的灰度级得到增强封装IC灰度图像，对增强封装IC灰度图像进行分割缺陷检测，完成引脚缺陷的识别。。百度搜索马 克 数 据 网
专利申请信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种封装IC表面缺陷视觉检测方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311773843.0 |
| 申请日 | 2023/12/22 |
| 公告号 | CN117437238A |
| 公开日 | 2024/1/23 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 深圳宝铭微电子有限公司 |
| 发明人 | 程伟; 杨丽丹; 杨顺作; 杨丽香; 杨金燕; 杨丽霞 |
| 地址 | 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区腾飞路9号创投大厦1201 |