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自我老化方法、装置、设备及存储介质

申请号: CN202311468998.3
申请人: 深圳三地一芯电子股份有限公司
更新日期: 2026-03-09

摘要文本

深圳三地一芯电子股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开了一种自我老化方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:将需要进行老化测试的存储控制芯片连接;从若干存储控制芯片中选择其中一个作为主设备,其余存储控制芯片作为从设备;对所有存储控制芯片进行初始化,其中作为主设备的存储控制芯片负责对所有作为从设备的存储控制芯片进行初始化,其中一个作为从设备的存储控制芯片负责对作为主设备的存储控制芯片进行初始化;两两配对存储控制芯片,已配对的存储控制芯片以交替读写操作的方式执行老化测试。本申请省去主机、闪存颗粒参与,仅依靠存储控制芯片与存储控制芯片之间通信交互即可实现老化,避免主机长时间处于极端环境下对其造成损坏。省去主机、闪存颗粒也能够降低老化测试成本。

专利主权项内容

1.一种自我老化方法,其特征在于,包括:将需要进行老化测试的存储控制芯片连接;从若干所述存储控制芯片中选择其中一个作为主设备,其余所述存储控制芯片作为从设备;对所有所述存储控制芯片进行初始化,其中作为主设备的所述存储控制芯片负责对所有作为从设备的所述存储控制芯片进行初始化,其中一个作为从设备的所述存储控制芯片负责对作为主设备的所述存储控制芯片进行初始化;两两配对所述存储控制芯片,已配对的所述存储控制芯片以交替读写操作的方式执行老化测试。 来源:马 克 团 队

专利申请信息

项目 内容
专利名称 自我老化方法、装置、设备及存储介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202311468998.3
申请日 2023/11/3
公告号 CN117746963A
公开日 2024/3/22
IPC主分类号 G11C29/56
权利人 深圳三地一芯电子股份有限公司
发明人 曾庆聪; 陈向兵; 张辉; 张如宏; 胡来胜
地址 广东省深圳市龙岗区坂田街道岗头社区天安云谷产业园二期4栋4层402-406