一种存储设备的IO性能测试方法

专利主权项内容

1.一种存储设备的IO性能测试方法，其特征在于，所述IO性能测试方法包括：S100：获取存储设备的历史存储数据，基于所述历史存储数据建立测试数据库；S110：获取存储设备的历史使用数据，基于所述历史使用数据在所述存储设备内划分若干个测试分区；S120：在所述测试数据库中提取测试数据集，在所述测试数据库中随机抽取测试数据集，在所述测试数据集中随机选取数据，并对选取的数据进行标记，得到目标数据；S130：将所述测试数据集依次输入若干个所述测试分区，记录每个测试分区内目标检测数据的读写响应时间，得到分区测试数据；所述存储设备将所述测试数据集缓存预设时间后输出；获取目标数据输入存储设备的读取时刻，获取所述存储设备输出目标数据的写入时刻；结合所述读取时刻、写入时刻以及预设时间，得到所述目标数据的读写响应时间；所述目标数据的读写响应时间计算公式为：T＝(t-t)-T；Rois其中：T为目标数据的读写响应时间，t是目标数据的写入时刻，t是目标数据的读取时刻，T为预设时间；RoiSS140：取任意两个分区测试数据进行差值比较，根据差值比较结果计算误差时间；S150：将误差时间与预设的时差阈值进行比较，根据比较结果对存储设备的IO性能进行等级评定。