← 返回列表

毫米波雷达SOC芯片的ASIC算法测试方法、装置、介质

申请号: CN202311277016.2
申请人: 珠海微度芯创科技有限责任公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 毫米波雷达SOC芯片的ASIC算法测试方法、装置、介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202311277016.2
申请日 2023/9/28
公告号 CN117389869A
公开日 2024/1/12
IPC主分类号 G06F11/36
权利人 珠海微度芯创科技有限责任公司
发明人 张慧; 罗俊; 刘文冬; 周春元; 高伟
地址 广东省珠海市高新区唐家湾镇大学路101号3栋603-3

摘要文本

珠海微度芯创科技有限责任公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本申请公开了毫米波雷达SOC芯片的ASIC算法测试方法、装置、介质,方法包括:ADC数据采集模块采集的第一待测ADC数据通过SOC外设接口转成第二待测ADC数据并传至PC,PC保存并分析得到第一处理结果,并将第二待测ADC数据通过FPGA模块、ADC数据格式转换模块转换成第三待测ADC数据;ASIC算法处理模块分析第三待测ADC数据得到第二处理结果并传至PC,PC比较两个处理结果得到ASIC算法测试结果。本申请将SOC芯片采集的ADC数据发送并保存在PC,测试ASIC算法处理模块的数据源从PC获取,使得PC用于分析的数据源与评估ASIC算法处理模块算法性能的数据源相同,保障测试结果的可靠性。

专利主权项内容

1.一种毫米波雷达SOC芯片的ASIC算法测试方法,其特征在于,应用于ASIC算法测试装置,所述ASIC算法测试装置包括毫米波雷达SOC芯片、个人电脑PC和FPGA模块,所述毫米波雷达SOC芯片包括模数转换ADC数据采集模块、ASIC算法处理模块、ADC数据格式转换模块和SOC外设接口,所述ASIC算法处理模块部署有毫米波雷达算法,所述PC部署有应用程序,所述应用程序预置有所述毫米波雷达算法,所述方法包括:所述ADC数据采集模块采集第一待测ADC数据,并将所述第一待测ADC数据发送至所述SOC外设接口;所述SOC外设接口对所述第一待测ADC数据进行格式转换得到第二待测ADC数据,并将所述第二待测ADC数据上传至所述PC,以使所述PC将所述第二待测ADC数据保存于本地,并利用所述应用程序对所述第二待测ADC数据进行数据分析处理,得到第一处理结果;所述PC将所述第二待测ADC数据下发至所述FPGA模块,所述FPGA模块将所述第二待测ADC数据发送至所述ADC数据格式转换模块,以使所述ADC数据格式转换模块对所述第二待测ADC数据进行格式转换,得到第三待测ADC数据,其中,所述第三待测ADC数据与所述第一待测ADC数据的数据格式相同;所述ADC数据格式转换模块将所述第三待测ADC数据输入至所述ASIC算法处理模块,以使所述ASIC算法处理模块对所述第三待测ADC数据进行数据分析处理,得到第二处理结果;所述ASIC算法处理模块将所述第二处理结果通过所述SOC外设接口上传至所述PC,所述PC对所述第一处理结果和所述第二处理结果进行数据比较处理,得到ASIC算法测试结果。