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一种基于测试结果数据的测试指标优化方法

申请号: CN202311654264.4
申请人: 韶关朗科半导体有限公司
更新日期: 2026-03-09

摘要文本

韶关朗科半导体有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开了一种基于测试结果数据的测试指标优化方法,属于固态硬盘测试领域。方法包括步骤:准备待测试的SSD产品,设置第一测试参数集;将部分SSD产品设定为样本组,启动第一计时器;根据RDT测试策略和第一测试参数集对样本组进行RDT测试;识别异常SMART数据,将异常SMART数据对应的测试参数设定为敏感参数值;提高第一测试参数集中敏感参数值的选择概率;根据所述RDT测试结果拟合浴盆曲线;根据浴盆曲线的初始失效期设定老化测试时间,根据老化测试时间对所有SSD产品执行常温老化测试。本申请通过提高敏感参数值的选择概率,以实现快速识别样本异常,提高测试效率。

专利主权项内容

1.一种基于测试结果数据的测试指标优化方法,其特征在于:包括步骤:S1、准备待测试的SSD产品,设置第一测试参数集;所述第一测试参数集包括读写负载参数组、温度参数组、湿度参数组和电压参数组;所述读写负载参数组、温度参数组、湿度参数组和电压参数组存储参数值和参数值的选择概率;S2、将部分SSD产品设定为样本组,启动第一计时器同时进入步骤S3;S3、根据RDT测试策略和第一测试参数集对样本组进行RDT测试;具体的,所述RDT测试策略,包括步骤:S31、初始化第二计时器,启动测试并在测试过程中记录RDT测试结果;所述RDT测试结果包括测试参数和SMART数据;S32、根据预设的参数切换周期,将测试参数切换为通过第一测试参数集的参数值的选择概率随机选取的参数值;S33、第二计时器达到预设的第二时间阈值时停止RDT测试,进入步骤S4;S4、识别异常SMART数据,将异常SMART数据对应的测试参数设定为敏感参数值;S5、提高第一测试参数集中敏感参数值的选择概率,若第一计时器未达到第一时间阈值,则返回步骤S3;其中,第一时间阈值大于第二时间阈值;S6、根据所述RDT测试结果拟合浴盆曲线;S7、根据浴盆曲线的初始失效期设定老化测试时间,根据老化测试时间对所有SSD产品执行常温老化测试。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 一种基于测试结果数据的测试指标优化方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311654264.4
申请日 2023/12/5
公告号 CN117637004A
公开日 2024/3/1
IPC主分类号 G11C29/50
权利人 韶关朗科半导体有限公司
发明人 周福池; 谢兴; 叶元彬; 彭伟华; 周旺英; 张学义
地址 广东省韶关市武江区盛强路28号1号厂房3、4、5楼