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一种基于蒙特卡罗检验的摄影测量像控点质量评价方法

申请号: CN202311777570.7
申请人: 南京信息工程大学
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于蒙特卡罗检验的摄影测量像控点质量评价方法
专利类型 发明授权
申请号 CN202311777570.7
申请日 2023/12/22
公告号 CN117451011B
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 G01C11/04
权利人 南京信息工程大学
发明人 仇瑞博; 代文; 王国杰; 王波; 刘爱利; 陈凯
地址 江苏省南京市江北新区宁六路219号

摘要文本

本发明公开了一种基于蒙特卡罗检验的摄影测量像控点质量评价方法,涉及摄影测量技术领域,首先获取测区的航测像片和像控点数据,将像控点进行编号,同时对像片进行刺点和空三加密处理;其次设计蒙特卡罗检验实验,选择一定数量的像控点作为控制点,其余的像控点作为检查点,保证每个像控点作为控制点一定次数,计算像控点作为控制点和检查点的平均误差;然后计算像控点作为控制点和检查点的平均误差平均数,计算像控点作为控制点和检查点的平均误差的标准差;最后计算每个像控点的质量系数,按照质量评价标准进行评价。从而提供了针对像控点质量的检验方法,保证了像控点质量,避免因控制点测量误差或刺点误差较大引起的摄影测量误差。

专利主权项内容

1.一种基于蒙特卡罗检验的摄影测量像控点质量评价方法,其特征在于:包括以下步骤S1、获取测区的航测像片和像控点数据,像控点数量记为n,同时对航测像片进行刺点和空三加密处理;S2、随机选择像控点总数40%~60%的点作为控制点参与光束平差优化,将此时控制点的数量记为m个,并将其余的(n-m)个像控点作为检查点;S3、保持选取控制点的数量m不变,选取1号像控点作为控制点固定不变,剩余的(m-1)个控制点在像控点中随机选取2n次以上;每次选取完成得到m个控制点后进行光束平差优化,计算并记录每次光束平差优化后的检查点和控制点的误差;每次光束平差优化后的检查点和控制点的误差计算公式为:其中, 是空三加密后像控点的观测值与像控点坐标值在x方向上的差值,/>是空三加密后像控点的观测值与像控点坐标值在y方向上的差值,/>是空三加密后像控点的观测值与像控点坐标值在z方向上的差值;S4、依次选取2, 3, ……, n号像控点作为控制点固定不变,重复执行步骤S3,直至n号像控点迭代结束;S5、计算像控点的质量系数Q,并对每个像控点的质量系数Q进行评价,得到像控点质量评价结果;步骤S5具体包括以下分步骤S5.1、计算每个像控点分别作为控制点和检查点的平均误差,得到像控点分别作为控制点和检查点的平均误差图;S5.2、统计像控点作为控制点和检查点的平均误差平均数,并计算每个像控点作为控制点和检查点的标准差/>,然后计算像控点的质量系数Q;S5.3、对每个像控点的质量系数Q进行评价,得到像控点质量评价结果。