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反演成像方法和装置
申请人信息
- 申请人:南京理工大学
- 申请人地址:210014 江苏省南京市玄武区孝陵卫街道孝陵卫街200号
- 发明人: 南京理工大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 反演成像方法和装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311466487.8 |
| 申请日 | 2023/11/6 |
| 公告号 | CN117665948A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G01V3/38 |
| 权利人 | 南京理工大学 |
| 发明人 | 卞雷祥; 刘又嘉; 徐展; 徐晨磊; 胡杰; 何勇; 戎晓力 |
| 地址 | 江苏省南京市玄武区孝陵卫200号 |
摘要文本
本申请公开一种反演成像方法和装置，属于视电阻率深度成像领域。该反演成像方法包括：获取多个探测点的电磁响应值；根据电磁响应值和预先确定的均匀半空间电磁响应曲线，确定各个探测点对应的深度和视电阻率，预先确定的均匀半空间电磁响应曲线为不同视电阻率与电磁响应值及时间道之间的关系曲线；根据各个探测点对应的深度和视电阻率，将待测空间在深度方向进行分层处理，并确定每层的参数范围，参数包括深度和视电阻率；将参数范围中的第一参数输入至目标反演模型，进行模型迭代训练，基于电磁响应值、时间道、参数的温度和反演最小化目标函数，调整参数，直至参数的温度和/或反演最小化目标函数满足预设条件，得到参数的目标值。
专利主权项内容
1.一种反演成像方法，其特征在于，包括：获取多个探测点的电磁响应值；根据所述电磁响应值和预先确定的均匀半空间电磁响应曲线，确定各个所述探测点对应的深度和视电阻率，所述预先确定的均匀半空间电磁响应曲线为不同视电阻率与电磁响应值及时间道之间的关系曲线；根据各个所述探测点对应的深度和视电阻率，将待测空间在深度方向进行分层处理，并确定每层的参数范围，所述参数包括深度和视电阻率；将所述参数范围中的第一参数输入至目标反演模型，进行模型迭代训练，基于所述电磁响应值、所述时间道、所述参数的温度和反演最小化目标函数，调整所述参数，直至所述参数的温度和/或所述反演最小化目标函数满足预设条件，得到所述参数的目标值。 更多数据：搜索马克数据网来源：