一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法

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本发明公开了一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，包括基于测量频率，确定出测试天线的类型；当判定屏蔽壳体为异形屏蔽壳体，则基于异形屏蔽壳体的尺寸，确定出测试天线的尺寸；根据异形屏蔽壳体的几何特征，确定出异形屏蔽壳体所属的几何结构分类；依据异形屏蔽壳体所属的几何结构分类，确定出发射端测试天线和接收端测试天线的位置。本发明可填补现有屏蔽壳体屏蔽效能测试方法空白，为异形屏蔽壳体屏蔽效能测试提供条件，具有很好的工程价值。