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防覆冰TPU薄膜的缺陷检测方法及系统

申请号: CN202311703453.6
申请人: 南通纳科达聚氨酯科技有限公司
更新日期: 2026-03-10

专利详细信息

项目 内容
专利名称 防覆冰TPU薄膜的缺陷检测方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202311703453.6
申请日 2023/12/13
公告号 CN117388302A
公开日 2024/1/12
IPC主分类号 G01N23/2251
权利人 南通纳科达聚氨酯科技有限公司
发明人 叶航; 吴继业; 肖琳
地址 江苏省南通市南通高新技术产业开发区金桥路999号

摘要文本

本发明涉及数据处理技术领域,提供防覆冰TPU薄膜的缺陷检测方法及系统,包括:配置缺陷检测指标门限值,包括孔隙、直径、厚度、填料聚团数和表面接触角;通过扫描电镜计算第一薄膜样品的参数,基于门限值校验,获取薄膜缺陷指标;以填料类型和TPU体系为约束,生成多条缺陷指标变化趋势曲线并拟合曲线,生成填料推荐掺杂比例;试生产第二薄膜样品,若满足门限值,则标识缺陷检测合格标签,解决单一的图像检测无法有效识别防覆冰TPU薄膜的缺陷,容易发生漏检和误检技术问题,实现通过采用数据分析和机器学习技术,对照覆冰TPU薄膜样品,对缺陷进行分类和预测,确保防覆冰TPU薄膜的质量,有效提高了检测的准确性和可靠性技术效果。

专利主权项内容

1.防覆冰TPU薄膜的缺陷检测方法,其特征在于,包括:配置缺陷检测指标门限值,其中,所述缺陷检测指标门限值包括孔间隙门限值、孔直径门限值、厚度门限值、填料聚团数量和表面接触角门限值;输送第一TPU薄膜样品,使用场发射扫描电镜进行样品形貌扫描,计算第一孔间隙、第一孔直径、第一厚度、第一填料聚团数量和第一表面接触角;基于所述孔间隙门限值、所述孔直径门限值、所述厚度门限值、所述填料聚团数量和所述表面接触角门限值,对所述第一孔间隙、所述第一孔直径、所述第一厚度、所述第一填料聚团数量和所述第一表面接触角进行校验,获得薄膜缺陷指标;以掺杂填料类型和TPU聚氨酯体系为约束,遍历所述薄膜缺陷指标进行制备数据挖掘,生成多条缺陷指标变化趋势曲线;激活变化趋势曲线拟合通道,对所述多条缺陷指标变化趋势曲线进行拟合,生成填料推荐掺杂比例;根据所述填料推荐掺杂比例执行试生产,获得第二TPU薄膜样品;当所述第二TPU薄膜样品满足所述缺陷检测指标门限值,对所述第二TPU薄膜样品标识缺陷检测合格标签。