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一种芯片老化监测装置、方法及计算机可读存储介质
申请人信息
- 申请人:毫厘智能科技(江苏)有限公司
- 申请人地址:213164 江苏省常州市武进区国家高新技术产业开发区天安数码城16幢1009室
- 发明人: 毫厘智能科技(江苏)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种芯片老化监测装置、方法及计算机可读存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311506685.2 |
| 申请日 | 2023/11/9 |
| 公告号 | CN117665536A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 毫厘智能科技(江苏)有限公司 |
| 发明人 | 杨建 |
| 地址 | 江苏省常州市武进区国家高新技术产业开发区天安数码城16幢1009室 |
摘要文本
本申请提供了一种芯片老化监测装置、方法及计算机可读存储介质，该设备应用于芯片，芯片包括芯片组件。该装置包括：计数单元、控制器和处理器，计数单元设置在芯片中。其中，控制器用于当芯片组件开始工作时，控制计数单元开始计数，且当芯片组件停止工作时，控制计数单元停止计数；计数单元的工作环境参数与芯片组件的工作环境参数一致；工作环境参数包括温度、电压和时钟中的至少一种；处理器用于根据计数单元的老化失效状态，确定芯片组件的老化程度。通过上述的方案，本申请可以根据计数单元的老化失效状态，较为精准地确定芯片组件的老化程度。
专利主权项内容
1.一种芯片老化监测装置，其特征在于，所述装置应用于芯片，所述芯片包括芯片组件，所述装置包括：计数单元、控制器和处理器；所述计数单元设置在所述芯片中；所述控制器用于当所述芯片组件开始工作时，控制所述计数单元开始计数，且当所述芯片组件停止工作时，控制所述计数单元停止计数；所述计数单元的工作环境参数与所述芯片组件的工作环境参数一致；所述工作环境参数包括温度、电压和时钟中的至少一种；所述处理器用于根据所述计数单元的老化失效状态，确定所述芯片组件的老化程度。