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一种微米尺寸倒装LED芯片及其制备方法

申请号: CN201710405621.1
申请人: 华南理工大学
更新日期: 2026-03-08

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种微米尺寸倒装LED芯片及其制备方法
专利类型 发明授权
申请号 CN201710405621.1
申请日 2017年6月1日
公告号 CN107195747B
公开日 2024年3月26日
IPC主分类号 H01L33/14
权利人 华南理工大学
发明人 黄华茂; 王洪; 杨倬波; 陈迪涛; 梁思炜
地址 广东省广州市天河区五山路

摘要文本

华南理工大学获取“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开一种微米尺寸倒装LED芯片及其制备方法,特点是制备LED的GaN外延层是台型结构,台型结构的台基和台面都呈圆台型,台基上分布有n‑电极圆环,台面顶部的边缘分布有电流扩展圆环,电流扩展材料在300℃的温度下不会发生离子扩散,电流扩展圆环顶部的边缘和台型结构的侧壁是钝化层,钝化层采用化学气相沉积介质绝缘层和周期数不小于1的分布布拉格反射镜层,台面顶部和钝化层侧壁覆盖p‑反射电极层。本发明可提高反射镜的反射率,同时避免反射电极层中的金属扩散导致的漏电现象,并且在光刻工艺中具有较大的对准容差。

专利主权项内容

1.一种微米尺寸倒装LED芯片,其特征是制备该LED芯片的GaN外延层是台型结构,台型结构的台基和台面都呈圆台型,台基上分布有n-电极圆环,台面顶部的边缘分布有电流扩展圆环,电流扩展圆环顶部的边缘和台型结构的侧壁设有钝化层,台面顶部和钝化层侧壁覆盖p-反射电极层;LED芯片是倒装结构,从下至上依次包括衬底、缓冲层、非故意掺杂GaN层、n-GaN层、量子阱层、p-GaN层、芯片边缘的电流扩展圆环,n-GaN层包括台基和台面,台基的上表面边缘设有n-电极层即所述n-电极圆环;芯片边缘的电流扩展圆环设在p-GaN层顶部的边缘,缓冲层、非故意掺杂GaN层、n-GaN层、量子阱层、p-GaN层、芯片边缘的电流扩展圆环、n-电极层一起叠成后的侧壁设有钝化层,芯片边缘的电流扩展圆环、n-电极层的上表面也设有钝化层,p-GaN层顶部除芯片边缘的电流扩展圆环外的部位被p-反射电极层覆盖,钝化层的外侧壁也被p-反射电极层覆盖;所述台面顶部的直径是微米数量级,数值为10μm~100μm;所述圆台侧壁与底边的夹角的范围是20°-50°;所述电流扩展圆环的外边界与台面顶部的边界的距离小于5μm;所述电流扩展圆环即电流扩展层在蓝光和绿光波段具有高透过率,与GaN形成低欧姆接触电阻,且在300℃的温度下不会发生离子扩散;所述钝化层由介质绝缘层和分布布拉格反射镜层组成,所述分布布拉格反射镜的周期数不小于1,周期结构的低折射率材料/高折射率材料是SiO/SiN。2x 马-克-数据