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一种学习过程测评方法、装置、电子设备及介质
申请人信息
- 申请人:青岛培诺教育科技股份有限公司
- 申请人地址:266100 山东省青岛市崂山区松岭路395号国际院士港·培诺教育
- 发明人: 青岛培诺教育科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种学习过程测评方法、装置、电子设备及介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410138158.9 |
| 申请日 | 2024/2/1 |
| 公告号 | CN117670146A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G06Q10/0639 |
| 权利人 | 青岛培诺教育科技股份有限公司 |
| 发明人 | 郭宏 |
| 地址 | 山东省青岛市崂山区松岭路395号国际院士港·培诺教育 |
摘要文本
本申请涉及数据测评技术领域，尤其是涉及一种学习过程测评方法、装置、电子设备及介质，方法包括获取学习特征信息；根据每个学习特征、特征值和第一映射关系，确定每个学习特征的参考值；根据预设组合规则对多个学习特征进行组合，得到至少一个评价项组合，并根据每个评价项组合中包含的学习特征，和每个学习特征对应的参考值确定每个评价项组合的组合键值对；基于每个评价项组合对应的组合键值对和预设特征矩阵确定每个评价项组合对应的组合评语；根据每个评价项组合的组合评语，确定反馈测评结果。本申请能够提升测评结果与学生实际学习过程之间的适配度，从而降低系统评价结果与学生实际掌握情况之间的误差。
专利主权项内容
1.一种学习过程测评方法，其特征在于，包括：获取学习特征信息，所述学习特征信息包括多个学习特征和每个学习特征对应的特征值，所述学习特征包括学习时长、做题时长、做题结果以及操作轨迹；根据每个学习特征、特征值和第一映射关系，确定每个学习特征的参考值，所述第一映射关系为学习特征和特征值与参考值之间的对应关系；根据预设组合规则对多个学习特征进行组合，得到至少一个评价项组合，并根据每个评价项组合中包含的学习特征，和每个学习特征对应的参考值确定每个评价项组合的组合键值对；基于每个评价项组合对应的组合键值对和预设特征矩阵确定每个评价项组合对应的组合评语，所述预设特征矩阵由每个学习特征之间的特征组合构成；根据每个评价项组合的组合评语，确定反馈测评结果。