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一种手机数据线生产缺陷无损检测方法

申请号: CN202410069850.0
申请人: 东莞市立时电子有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种手机数据线生产缺陷无损检测方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410069850.0
申请日 2024/1/18
公告号 CN117593295A
公开日 2024/2/23
IPC主分类号 G06T7/00
权利人 东莞市立时电子有限公司
发明人 沈卫
地址 广东省东莞市塘厦镇沙湖村麒麟岭路2号

摘要文本

本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种手机数据线生产缺陷无损检测方法,包括:根据局部窗口内像素点的灰度分布获得每个像素点的磨损程度,根据参考像素点和初始聚类中心点之间的距离和磨损程度的差异,获得像素点之间的相似程度,得到若干个初始类簇;根据像素点的磨损程度、像素点的灰度分布和像素点梯度方向的差异,获得每个初始类簇的缺陷程度,根据初始类簇的缺陷程度的均值之间的差异和像素点之间的距离,获得每个初始类簇的聚类优先特征和参考初始类簇之间的合并优先特征,得到若干个终止类簇;根据磨损程度进行缺陷检测。本发明确定出了更加准确的类簇,提高了手机数据线缺陷检测的准确性。 来自马-克-数-据

专利主权项内容

1.一种手机数据线生产缺陷无损检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:采集手机数据线的USB接口图像;获取USB接口图像中每个像素点的局部窗口,根据每个像素点的局部窗口内像素点的灰度分布,和局部窗口内所有像素点的灰度值的均值与USB接口图像中所有像素点的灰度值的均值之间的差异,获得每个像素点的磨损程度,根据USB接口图像的大小特征获取若干个初始聚类中心点和参考像素点,根据参考像素点和初始聚类中心点之间的距离和磨损程度的差异,获得每个参考像素点与每个初始聚类中心点之间的相似程度,根据每个参考像素点与每个初始聚类中心点之间的相似程度获得若干个初始类簇;根据每个初始类簇中所有像素点的磨损程度的均值、所有像素点的灰度分布和所有像素点的梯度方向的差异,获得每个初始类簇的缺陷程度,根据每个初始类簇的缺陷程度、初始类簇的缺陷程度的均值之间的差异和每个像素点与初始聚类中心点之间的距离,获得每个初始类簇的聚类优先特征,将每个初始类簇相邻的所有初始类簇记为每个初始类簇对应的参考初始类簇,根据每个初始类簇与对应的每个参考初始类簇之间的距离和缺陷程度的差异,获得每个初始类簇与对应的每个参考初始类簇之间的合并优先特征,根据每个初始类簇的聚类优先特征和每个初始类簇与对应的每个参考初始类簇之间的合并优先特征,获得若干个终止类簇;根据终止类簇中像素点的磨损程度进行数据线的缺陷检测。