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一种薄膜开关的性能检测方法、系统、处理器和存储介质
申请人信息
- 申请人:东莞市钜欣电子有限公司
- 申请人地址:523000 广东省东莞市清溪镇青湖东路55号力合紫荆科创中心研发楼2栋701室
- 发明人: 东莞市钜欣电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种薄膜开关的性能检测方法、系统、处理器和存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410093542.1 |
| 申请日 | 2024/1/23 |
| 公告号 | CN117607679A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | G01R31/327 |
| 权利人 | 东莞市钜欣电子有限公司 |
| 发明人 | 刘义军; 黄幸宗; 赖枭涌 |
| 地址 | 广东省东莞市清溪镇青湖东路55号力合紫荆科创中心研发楼2栋701室 |
摘要文本
本发明公开了一种薄膜开关的性能检测方法、系统、处理器和存储介质，包括提供触控模拟器和电容测量装置并同步设置；触控模拟器运行以进行模拟触控操作，通过电容测量装置获取电容变化信号；设定电容变化的若干个触发阈值区间，并读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，以得到每个触发阈值区间内的变化幅度；对获取的电容变化信号进行频率分析，根据电容变化频率和变化幅度，以识别薄膜开关的触觉反应特征，评估薄膜开关的触觉灵敏度和一致性的结果；通过触控模拟和电容测量集成，能够综合考量薄膜开关在不同触控强度下的性能，捕捉到更复杂的触觉反应特性，从而克服了现有技术只关注单一性能指标的局限，提高了测试的精准度和全面性。 关注微信公众号专利查询网
专利主权项内容
1.一种薄膜开关的性能检测方法，其特征在于，包括：提供触控模拟器和电容测量装置，将触控模拟器与所述电容测量装置同步设置；触控模拟器运行以进行模拟触控操作，通过电容测量装置获取电容变化信号；设定电容变化的若干个触发阈值区间，并读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，以得到每个触发阈值区间内的变化幅度；对获取的电容变化信号进行频率分析，根据电容变化频率和变化幅度，以识别薄膜开关的触觉反应特征，根据所述触觉反应特征评估薄膜开关的触觉灵敏度和一致性的结果。