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一种二维线轮廓度测量方法、装置、系统及存储介质
申请人信息
- 申请人:东莞市兆丰精密仪器有限公司
- 申请人地址:523000 广东省东莞市石排镇下沙村下沙岭南路1号
- 发明人: 东莞市兆丰精密仪器有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种二维线轮廓度测量方法、装置、系统及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410199809.5 |
| 申请日 | 2024/2/23 |
| 公告号 | CN117781937A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G01B11/24 |
| 权利人 | 东莞市兆丰精密仪器有限公司 |
| 发明人 | 段存立; 喻林辉; 祝启航; 禤伟杰 |
| 地址 | 广东省东莞市石排镇下沙村下沙岭南路1号 |
摘要文本
本发明公开了一种二维线轮廓度测量方法、装置、系统及存储介质；方法通过采集待测产品的测量轮廓数据信息并转换为对应的测量轮廓显示后，在测量轮廓上根据预设取点规则设置多个测量点，并根据待测产品的理论轮廓和测量基准模式将测量轮廓与理论轮廓对齐后，根据多个测量点的当前坐标信息与理论轮廓计算待测产品的轮廓度；进而解决相关技术中对待测产品进行二维线轮廓度测量时存在的测量效率低、实时性差的技术问题。
专利主权项内容
1.一种二维线轮廓度测量方法，其特征在于，包括：采集待测产品的测量轮廓数据信息，并将所述测量轮廓数据信息转换为对应的测量轮廓进行显示；根据预设取点规则在所述测量轮廓上设置多个测量点；根据所述待测产品的理论轮廓及测量基准模式，对所述测量轮廓进行平移和/或旋转以使得所述测量轮廓与理论轮廓对齐；根据多个所述测量点的当前坐标信息、所述理论轮廓计算所述待测产品的轮廓度。