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一种基于传感器阵列测量光学的设备及其方法

申请号: CN202410196747.2
申请人: 广东熠日照明科技有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于传感器阵列测量光学的设备及其方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410196747.2
申请日 2024/2/22
公告号 CN117760339A
公开日 2024/3/26
IPC主分类号 G01B11/26
权利人 广东熠日照明科技有限公司
发明人 陈其佑; 周亮; 胡泽洲; 陈晓文
地址 广东省中山市翠亨新区中准道55号

摘要文本

本发明创造涉及一种基于传感器阵列测量光学的设备及其方法,包括有控制处理中心和垂直设置的光照测试平台,所述光照测试平台内设置有若干呈“十”字形阵列分布的光学传感器,所述控制处理中心用于接收并处理所述光学传感器反馈的光学参数数据;该光学参数数据包括有色温、照度、色坐标、色偏差值、色度空间不均匀性,同时该设备可根据测量不同探测点的照度计算光学参数的光束角、泛光角、光通量和光的均匀性,相比较于现有技术,本发明具有更高测量光学的效率,其可以为灯具的生产实验以及品控测量都带来很大的方便性。

专利主权项内容

1.一种基于传感器阵列测量光学的设备,其特征在于,包括有控制处理中心和垂直设置的光照测试平台,所述光照测试平台内设置有若干呈“十”字形阵列分布的光学传感器,所述控制处理中心用于接收并处理所述光学传感器反馈的光学参数数据;所述控制处理中心上建立XY坐标系,位于“十”字形阵列中心位置的传感器设置在XY坐标系的中心O点并将其编号为A;其余所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的X正半轴上,并沿着远离中心O点方向依次编号为A、A...A;其余所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的X负半轴上,并沿着远离中心O点方向依次编号为C、C...C;其余所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的Y正半轴上,并沿着远离中心O点方向依次编号为B、B...B;剩余所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的Y负半轴上,并沿着远离中心O点方向依次编号为D、D...D。012n12n12n12n 来源:马 克 团 队