← 返回列表
单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法
申请人信息
- 申请人:季华实验室
- 申请人地址:528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号
- 发明人: 季华实验室
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410252945.6 |
| 申请日 | 2024/3/6 |
| 公告号 | CN117825767A |
| 公开日 | 2024/4/5 |
| IPC主分类号 | G01R1/067 |
| 权利人 | 季华实验室 |
| 发明人 | 钱思宇; 毕海; 黄伟华; 狄子翔; 涂政乾 |
| 地址 | 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号 |
摘要文本
本发明涉及电学检测技术领域，特别公开一种单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法，其中，所述单分子器件探针进针装置包括基座、宏动机构及微动机构；所述宏动机构设于所述基座，所述微动机构设于所述宏动机构；所述微动机构安装有探针和单分子器件中二者之一，所述宏动机构安装有所述探针和所述单分子器件中二者之另一；所述宏动机构和所述微动机构运动，并带动所述探针和所述单分子器件相互靠近，以使所述探针与所述单分子器件接触导通。本发明技术方案无需设置高精度仪器和极端实验环境也能实现单分子器件探针进针的动作，进而降低单分子器件的电学检测难度。
专利主权项内容
1.一种单分子器件探针进针装置，其特征在于，所述单分子器件探针进针装置包括基座、宏动机构及微动机构；所述宏动机构设于所述基座，所述微动机构设于所述宏动机构；所述微动机构安装有探针和单分子器件中二者之一，所述宏动机构安装有所述探针和所述单分子器件中二者之另一；所述宏动机构和所述微动机构运动，并带动所述探针和所述单分子器件相互靠近，以使所述探针与所述单分子器件接触导通。