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一种目标检测方法、系统、计算机设备及存储介质
申请人信息
- 申请人:华南理工大学
- 申请人地址:510000 广东省广州市番禺区大学城外环东路382号
- 发明人: 华南理工大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种目标检测方法、系统、计算机设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410105400.2 |
| 申请日 | 2024/1/25 |
| 公告号 | CN117636078A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G06V10/764 |
| 权利人 | 华南理工大学 |
| 发明人 | 郑宏维; 肖南峰 |
| 地址 | 广东省广州市天河区五山路381号 |
摘要文本
本发明提供了一种目标检测方法、系统、计算机设备及存储介质，通过骨干网络对原始图像进行特征提取，得到初始特征，将初始特征经过四个卷积层，得到四个原始特征图；对四个原始特征图进行拼接，得到拼接特征图；对拼接特征图分别进行两次特征解耦，得到分类特征和回归特征；将分类特征通过一个卷积层进行卷积操作，得到分类得分；将回归特征通过自注意力模块进行解耦，分别得到x回归特征和y回归特征；将x回归特征和y回归特征进行拼接并通过卷积操作，得到预测框边界预测值；根据分类得分，对预测框边界预测值进行检测，得到目标预测框。本发明通过对目标点进行优化组合，使得所选的预测框更加精准，特别是小目标物体，大大提升了检测精度。
专利主权项内容
1.一种基于特征解耦和组合策略的目标检测方法，其特征在于，所述方法包括：通过骨干网络对原始图像进行特征提取，得到初始特征，将所述初始特征经过四个卷积层，得到四个原始特征图；对四个所述原始特征图进行拼接，得到拼接特征图；对所述拼接特征图分别进行两次特征解耦，得到分类特征和回归特征；将所述分类特征通过一个卷积层进行卷积操作，得到分类得分；将所述回归特征通过自注意力模块进行解耦，分别得到针对x方向的x回归特征和针对y方向的y回归特征；将所述x回归特征和y回归特征进行拼接并通过卷积操作，得到预测框边界预测值；所述预测框边界预测值包括X边界预测值和Y边界预测值；根据所述分类得分，对所述预测框边界预测值进行检测，得到目标预测框。