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一种工业缺陷样本图像生成的方法、装置、电子设备及存储介质

申请号: CN202410194383.4
申请人: 广州市易鸿智能装备股份有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种工业缺陷样本图像生成的方法、装置、电子设备及存储介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202410194383.4
申请日 2024/2/22
公告号 CN117765372A
公开日 2024/3/26
IPC主分类号 G06V10/82
权利人 广州市易鸿智能装备股份有限公司
发明人 张权; 王刚; 赵哲; 邓镇健
地址 广东省广州市番禺区大石街会江石南二路9号3号楼101-301

摘要文本

本发明涉及一种工业缺陷样本图像生成的方法,包括:对正常样本或特征图进行编码、卷积,获得编码特征图和第一语义调制参数;利用输入的特征图尺寸信息对语义图进行尺寸调整,并从与输入的特征图对应的调制语义图中提取出第二或第四语义调制参数;通过第一和第二语义调制参数对编码特征图进行调制,获得语义调整编码特征图;对图像进行解码,并将其上采样后特征进行融合和卷积,得到融合解码特征图和第三语义调制参数;通过第三和第四语义调制参数对融合解码特征图进行调制,获得语义调整解码特征图;通过语义调整解码特征图进行卷积处理,生成缺陷图。本发明所述的工业缺陷样本图像生成的方法生成缺陷图时,缺陷边缘连接处平滑,且整体更为真实。。来源:马 克 团 队

专利主权项内容

1.一种工业缺陷样本图像生成的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:对正常样本或特征图分别进行特征提取、卷积,获得编码特征图和第一语义调制参数;S2:利用输入的特征图尺寸信息对语义图进行尺寸调整,并从与输入的特征图对应的调制语义图中提取出第二语义调制参数或第四语义调制参数;S3:通过第一语义调制参数和第二语义调制参数对编码特征图进行调制,获得语义调整编码特征图;同时存储至一存储器中;S4:判断语义调整编码特征图尺寸是否达到一编码特征图尺寸阈值;若为否,则执行步骤S1;若为是,则执行步骤S5;S5:对特征图进行特征整合、上采样,并将其上采样后特征进行融合和卷积,得到融合解码特征图和第三语义调制参数;S6:通过第三语义调制参数和第四语义调制参数对融合解码特征图进行调制,获得语义调整解码特征图;S7:判断语义调整解码特征图尺寸是否达到一解码特征图尺寸阈值;若为否,则执行步骤S5;若为是,则执行步骤S8;S8:将语义调整解码特征图进行卷积处理,生成缺陷图。