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图像传感器及其形成方法
申请人信息
- 申请人:粤芯半导体技术股份有限公司
- 申请人地址:510000 广东省广州市黄埔区凤凰五路28号
- 发明人: 粤芯半导体技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 图像传感器及其形成方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410063815.8 |
| 申请日 | 2024/1/17 |
| 公告号 | CN117577520A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | H01L21/266 |
| 权利人 | 粤芯半导体技术股份有限公司 |
| 发明人 | 石卓; 郭惠敏 |
| 地址 | 广东省广州市黄埔区凤凰五路28号 |
摘要文本
本发明提供图像传感器及其形成方法,通过先对掩膜层执行光刻工艺,以在掩膜层上形成开口区和阻挡区,开口区贯穿掩膜层并暴露出保护层,阻挡区的上表面和侧壁累积有静电负电荷;然后执行光阻微缩工艺,微缩调整阻挡区的特征尺寸和厚度并去除阻挡区的上表面和侧壁的静电负电荷;由于静电负电荷与离子注入工艺中的离子相互排斥,而通过执行光阻微缩工艺去除阻挡区的上表面和侧壁的静电负电荷,因此,在执行离子注入工艺形成光电二极管时,避免了离子注入工艺中注入的离子均匀性异常的问题。本发明不增加掩膜版,不影响光刻机的产能,操作简单,成本低廉,图像传感器的白像素点性能改善20%以上。
专利主权项内容
1.一种图像传感器的形成方法,其特征在于,包括:提供一半导体衬底,所述半导体衬底上依次形成有保护层和掩膜层,所述掩膜层覆盖所述保护层;对所述掩膜层执行光刻工艺,以在所述掩膜层上形成开口区和阻挡区,所述开口区贯穿所述掩膜层并暴露出所述保护层,所述阻挡区的上表面和侧壁累积有静电负电荷;执行光阻微缩工艺,微缩调整所述阻挡区的特征尺寸和厚度并去除所述阻挡区的上表面和侧壁的静电负电荷;执行离子注入工艺,以在所述半导体衬底内形成光电二极管。。() (来 自 马 克 数 据 网)