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用于TAC膜生产线的防断裂控制方法和系统

申请号: CN202410216794.9
申请人: 杉金光电(广州)有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 用于TAC膜生产线的防断裂控制方法和系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410216794.9
申请日 2024/2/28
公告号 CN117775836A
公开日 2024/3/29
IPC主分类号 B65H26/08
权利人 杉金光电(广州)有限公司
发明人 龚光涛; 严是乐; 梁奋; 钟伟钊; 邓达
地址 广东省广州市黄埔区东翔路50号

摘要文本

本发明涉及卷材卷绕技术领域,具体涉及用于TAC膜生产线的防断裂控制方法和系统,其包括以下步骤:获取TAC膜卷材的固定测量点在连续时刻下的厚度值;响应于至少连续两时刻下的厚度值小于厚度阈值时,则执行厚度预测算法;按照所述厚度预测算法,得到预测的横切时间,并进行TAC膜卷材的横切,以防止TAC膜卷材跑飞。即本发明的方案,通过对横切时间进行预测,能够有效地对工作人员进行提前提醒,能够及时地进行TAC膜卷材的横切,不仅避免了TAC膜卷材原料的浪费,还避免了TAC膜卷材跑飞,无法与下一个TAC膜卷材进行衔接的问题。

专利主权项内容

1.用于TAC膜生产线的防断裂控制方法,其特征在于,包括以下步骤:获取TAC膜卷材的固定测量点在连续时刻下的厚度值;响应于至少连续两时刻下的厚度值小于厚度阈值时,则执行厚度预测算法;按照所述厚度预测算法,得到预测的横切时间,控制TAC膜卷材进行横切,以防止TAC膜卷材跑飞;其中,按照所述厚度预测算法,得到预测的横切时间的具体过程为:基于预先获取的设定时序中多个转动周期的权重,对设定时序中多个转动周期的采样点的厚度值进行加权拟合,得到厚度函数;基于所述厚度函数,预测下一预测时序中预测转动周期的采样点的预测厚度值;若相邻两预测厚度值中的前一个预测厚度值大于设定值,而后一个预测厚度值小于设定值,则将前一个预测厚度值对应的时间,作为预测的横切时间;转动周期的权重为:其中,为第i个转动周期对应的权重,/>为第i个转动周期对应的高斯函数,/>为第j个转动周期对应的高斯函数,其中j=i+1,/>为第i个转动周期对应的高斯函数与第j个转动周期对应的高斯函数的KL散度值;/>函数为归一化函数,/>为第i个转动周期对应的方差,/>为第j个转动周期对应的方差,/>函数为求最大值。 该数据由<马克数据网>整理