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一种半导体测试机
申请人信息
- 申请人:深圳市圆朗智能科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区东方建富怡景工业城B4栋102
- 发明人: 深圳市圆朗智能科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种半导体测试机 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410060016.5 |
| 申请日 | 2024/1/16 |
| 公告号 | CN117572220A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 深圳市圆朗智能科技有限公司 |
| 发明人 | 叶宏成; 陈通芳 |
| 地址 | 广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区东方建富怡景工业城B4栋102 |
摘要文本
本发明涉及半导体测试技术领域，具体公开了一种半导体测试机，包括：测试机主体，还包括：装针机构，装针机构设置在测试座的输出端，通过装针机构在每个测试座上预装多个所需的探针；预测机构，预测机构设置在装针机构上，预测机构在装针机构探针接触芯片导体前预先检测探针是否正常；探连机构，探连机构设置在装针机构中，通过预测机构检测出探针的异常，如果探针体发生损坏，通过预测机构检测出探针体的异常，并且通过探连机构配合装针机构自身自动更换探针体，有利于快速更换探针体，并且在每次探针体检查芯片前，都可以通过预测机构对探针体进行提前检测，防止探针体发生损坏后再接触芯片对芯片造成烧毁的现象，利于保护正常芯片，减少误伤。
专利主权项内容
1.一种半导体测试机，包括：测试机主体(1)，所述测试机主体(1)包括机箱(11)，所述机箱(11)上设置有测试座(12)，所述测试座(12)的内侧设置有载具台(13)，所述载具台(13)上设置有放置台(14)，所述测试座(12)上设置有若干个探针座(16)，所述探针座(16)上设置有外观检测相机(17)，其特征在于：还包括：装针机构(2)，所述装针机构(2)设置在测试座(12)的输出端，通过装针机构(2)在每个测试座(12)上预装多个所需的探针；预测机构(3)，所述预测机构(3)设置在装针机构(2)上，所述预测机构(3)在装针机构(2)探针接触芯片导体前预先检测探针是否正常；探连机构(4)，所述探连机构(4)设置在装针机构(2)中，通过预测机构(3)检测出探针的异常，之后控制探连机构(4)自动对装针机构(2)中异常的探针进行更换。 来自：