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瑕疵检测方法、装置、计算机设备和存储介质
申请人信息
- 申请人:深圳市宗匠科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市南山区南山街道学府社区桂庙路22号向南瑞峰花园375
- 发明人: 深圳市宗匠科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 瑕疵检测方法、装置、计算机设备和存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410074197.7 |
| 申请日 | 2024/1/18 |
| 公告号 | CN117611580A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 深圳市宗匠科技有限公司 |
| 发明人 | 王念欧; 郦轲; 刘文华; 万进 |
| 地址 | 广东省深圳市南山区南山街道学府社区桂庙路22号向南瑞峰花园375 |
摘要文本
本申请涉及一种瑕疵检测方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：通过第一权重矩阵对待检测图像进行特征提取得到瑕疵数量卷积特征图，通过第二权重矩阵对待检测图像进行特征提取得到瑕疵等级卷积特征图；对瑕疵数量卷积特征图进行全局最大池化处理，对瑕疵等级卷积特征图进行全局平均池化处理；将瑕疵数量池化特征图和瑕疵等级池化特征图分别进行展平拉直处理；将瑕疵数量特征向量转换成瑕疵数量概率分布特征向量，将瑕疵等级特征向量转换成瑕疵等级概率分布特征向量；根据瑕疵数量概率分布特征向量和瑕疵等级概率分布特征向量，确定目标部位的瑕疵检测结果。可以提高对瑕疵进行计数和分级的准确性。
专利主权项内容
1.一种瑕疵检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测图像；所述待检测图像为针对目标对象的目标部位拍摄的图像；通过第一权重矩阵对待检测图像进行特征提取得到瑕疵数量卷积特征图，通过第二权重矩阵对待检测图像进行特征提取得到瑕疵等级卷积特征图；对所述瑕疵数量卷积特征图进行全局最大池化处理，得到瑕疵数量池化特征图，对所述瑕疵等级卷积特征图进行全局平均池化处理，得到瑕疵等级池化特征图；将所述瑕疵数量池化特征图和所述瑕疵等级池化特征图分别进行展平拉直处理，得到瑕疵数量特征向量和瑕疵等级特征向量；将所述瑕疵数量特征向量转换成瑕疵数量概率分布特征向量，将所述瑕疵等级特征向量转换成瑕疵等级概率分布特征向量；根据所述瑕疵数量概率分布特征向量和所述瑕疵等级概率分布特征向量，确定所述目标部位的瑕疵检测结果。。来自：马 克 团 队