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模糊测试方法、存储介质和电子装置
申请人信息
- 申请人:中兴通讯股份有限公司
- 申请人地址:518057 广东省深圳市南山区科技南路55号
- 发明人: 中兴通讯股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 模糊测试方法、存储介质和电子装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410117981.1 |
| 申请日 | 2024/1/29 |
| 公告号 | CN117648262A |
| 公开日 | 2024/3/5 |
| IPC主分类号 | G06F11/36 |
| 权利人 | 中兴通讯股份有限公司 |
| 发明人 | 张金鑫; 仝琦源; 赵英俊 |
| 地址 | 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦 |
摘要文本
本发明实施例提供了一种模糊测试方法、存储介质和电子装置，通过根据待测系统的待测攻击面，构建模糊测试模型；根据模糊测试模型，获取测试用例；根据测试用例，对待测系统进行模糊测试，其中，还引入Hook技术标记污点，反馈指导模糊测试。解决了相关技术中采用黑盒系统进行模糊测试的测试效率低、无法对无源码的情况进行有效测试的问题，达到了提高采用黑盒系统进行模糊测试的测试效率、实现对无源码的情况进行有效测试的效果。
专利主权项内容
1.一种模糊测试方法，其特征在于，包括：根据待测系统的待测攻击面，构建模糊测试模型；根据所述模糊测试模型，获取测试用例；根据所述测试用例，对所述待测系统进行模糊测试。 来源：马 克 团 队