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耐压的氮化镓功率器件的结构、芯片及电子设备

申请号: CN202410149305.2
申请人: 深圳天狼芯半导体有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 耐压的氮化镓功率器件的结构、芯片及电子设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202410149305.2
申请日 2024/2/2
公告号 CN117690793A
公开日 2024/3/12
IPC主分类号 H01L21/335
权利人 深圳天狼芯半导体有限公司
发明人 李孟泽; 黄伟宗
地址 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋裙楼904-905

摘要文本

一种耐压的氮化镓功率器件的结构、芯片及电子设备,属于半导体技术领域,包括衬底、缓冲层、沟道层、势垒层、第一盖层、第一未掺杂氮化镓层、第一金属层、第二金属层和第三金属层;缓冲层位于衬底的上表面;沟道层位于缓冲层的上表面;势垒层位于沟道层的上表面;第一盖层位于势垒层的上表面且部分覆盖势垒层;第一未掺杂氮化镓层位于第一盖层的上表面;第一金属层位于势垒层的上表面且位于第一盖层第一侧;第二金属层位于势垒层的上表面且位于第一盖层第二侧;第三金属层设置于第一未掺杂氮化镓层的上表面;降低第三金属层和第一盖层界面处的空穴聚集,达到降低栅极电场的效果,从而增大栅极击穿电压,降低栅极击穿的可能性,提高耐压能力。 该数据由<专利查询网>整理

专利主权项内容

1.一种耐压的氮化镓功率器件的结构,其特征在于,包括:衬底;位于所述衬底的上表面的缓冲层;位于所述缓冲层的上表面的沟道层;位于所述沟道层的上表面的势垒层;位于所述势垒层的上表面且部分覆盖所述势垒层的第一盖层;位于所述第一盖层的上表面的第一未掺杂氮化镓层;位于所述势垒层的上表面且位于所述第一盖层第一侧的第一金属层;位于所述势垒层的上表面且位于所述第一盖层第二侧的第二金属层;设置于所述第一未掺杂氮化镓层的上表面的第三金属层。。来自马-克-数-据