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一种适用于高频应用的耐高压GaN HEMT及制备方法

申请号: CN202410177837.7
申请人: 深圳天狼芯半导体有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种适用于高频应用的耐高压GaN HEMT及制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410177837.7
申请日 2024/2/8
公告号 CN117727756A
公开日 2024/3/19
IPC主分类号 H01L27/07
权利人 深圳天狼芯半导体有限公司
发明人 古佳茜
地址 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋裙楼904-905

摘要文本

本发明提供一种适用于高频应用的耐高压GaN HEMT及制备方法,该GaN HEMT包括:PN纵向二极管;所述PN纵向二极管包括:第二P型掺杂区和第二N型掺杂区;所述第二N型掺杂区位于漏极正下方且位于所述第二P型掺杂区和GaN层之间并与所述第二P型掺杂区、所述GaN层和缓冲层邻接;所述第二P型掺杂区位于漏极正下方且位于所述第二N型掺杂区和衬底之间并与所述第二N型掺杂区、所述衬底和所述缓冲层邻接。本发明在漏极下方的缓冲层中引入了PN纵向二极管,PN纵向二极管承受部分电压并拉低了栅极电场尖峰,抬高了平均沟道电场。PN纵向二极管中的N型掺杂区又耗尽了该区域的2DEG加强了对漏极电场的调制效果,减小缓冲层漏电,显著提升了GaN HEMT的电气性能。。来源:百度搜索专利查询网

专利主权项内容

1.一种适用于高频应用的耐高压GaN HEMT,其特征在于,包括:PN纵向二极管;所述PN纵向二极管包括:第二P型掺杂区和第二N型掺杂区;所述第二N型掺杂区位于漏极正下方且位于所述第二P型掺杂区和GaN层之间并与所述第二P型掺杂区、所述GaN层和缓冲层邻接;所述第二P型掺杂区位于漏极正下方且位于所述第二N型掺杂区和衬底之间并与所述第二N型掺杂区、所述衬底和所述缓冲层邻接。