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一种过温检测电路

申请号: CN202410206208.2
申请人: 深圳安森德半导体有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种过温检测电路
专利类型 发明申请
申请号 CN202410206208.2
申请日 2024/2/26
公告号 CN117782340A
公开日 2024/3/29
IPC主分类号 G01K7/00
权利人 深圳安森德半导体有限公司
发明人 赵江峰; 陈兵; 田园农; 王义辉; 赵贯中
地址 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区高新北六道27号兰光科技大楼C203L

摘要文本

本发明公开了一种过温检测电路,包括:功率控制模块,用于根据控制反馈的报警信号,及时调整功率管的工作状态;基准模块,用于产生比较过温检测的基准电压vref;检测模块,用于对所述功率控制模块温度的检测,并输出指示温度的电压;判断模块,用于对基准电压vref和输出指示温度的电压进行比较;控制模块,用于输出控制信号,并产生报警信号给所述功率控制模块。解决了现有技术中有大功率功率控制模块芯片的热冲击过温检测。

专利主权项内容

1.一种过温检测电路,其特征在于,包括:功率控制模块,用于根据控制反馈的报警信号,及时调整功率管的工作状态;基准模块,用于产生比较过温检测的基准电压vref;检测模块,用于对所述功率控制模块温度的检测,并输出指示温度的电压;判断模块,用于对基准电压vref和输出指示温度的电压进行比较;控制模块,用于输出控制信号,并产生报警信号给所述功率控制模块。。 (来源 马克数据网)