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一种近场测量方法、装置、终端及可读存储介质
申请人信息
- 申请人:深圳大学
- 申请人地址:518000 广东省深圳市南山区粤海街道南海大道3688号
- 发明人: 深圳大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种近场测量方法、装置、终端及可读存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410129927.9 |
| 申请日 | 2024/1/31 |
| 公告号 | CN117665414A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G01R29/10 |
| 权利人 | 深圳大学 |
| 发明人 | 徐晨; 张书瀚; 秦一峰; 李飞鹏; 冯纪强; 钟勤 |
| 地址 | 广东省深圳市南山区南海大道3688号 |
摘要文本
本申请适用于电磁场测量领域，提供一种近场测量方法、装置、终端及可读存储介质，其中方法包括：在目标天线的近场区域范围内选取采样平面，得到多个待划分采样平面；基于不同点位的电场值，对每一所述待划分采样平面进行区块划分，得到采样点数达到预设点数要求的目标采样平面；对所述目标采样平面进行点位的电场插值处理，得到插值电场数据；基于多个所述目标采样平面的所述插值电场数据，计算得到所述目标天线的所述近场区域范围内的电场相位分布数据。该方案能够提高近场测量速度。
专利主权项内容
1.一种近场测量方法，其特征在于，包括：在目标天线的近场区域范围内选取采样平面，得到多个待划分采样平面；基于不同点位的电场值，对每一所述待划分采样平面进行区块划分，得到采样点数达到预设点数要求的目标采样平面；对所述目标采样平面进行点位的电场插值处理，得到插值电场数据；基于多个所述目标采样平面的所述插值电场数据，计算得到所述目标天线的所述近场区域范围内的电场相位分布数据。