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基于计算机视觉的电子产品外壳缺陷监测方法及系统
申请人信息
- 申请人:深圳市深创高科电子有限公司
- 申请人地址:518100 广东省深圳市宝安区西乡街道固戍社区下围园经发智造园A栋A区601
- 发明人: 深圳市深创高科电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于计算机视觉的电子产品外壳缺陷监测方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410212171.4 |
| 申请日 | 2024/2/27 |
| 公告号 | CN117789132A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G06V20/52 |
| 权利人 | 深圳市深创高科电子有限公司 |
| 发明人 | 程伟; 杨丽丹; 杨顺作; 杨丽香; 杨金燕; 杨丽霞 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区西乡街道固戍社区下围园经发智造园A栋A区601 |
摘要文本
本发明涉及计算机视觉技术领域，提出了基于计算机视觉的电子产品外壳缺陷监测方法及系统，获取电子产品灰度图像；根据灰度分布得到各像素点的区域概率反光度；根据像素点的梯度角度得到各像素点的梯度邻域正弦熵，分析划定区域内的梯度邻域正弦熵得到各像素点的光照梯度正弦熵；结合光照梯度正弦熵及区域概率反光度得到各像素点的区域反光系数；利用区域反光系数得到各像素点外壳光照影响因子；结合各像素点的外壳光照影响因子得到各像素点阈值，从而得到电子产品二值图像，实现电子产品外壳缺陷监测。本发明旨在提高电子产品外壳缺陷监测的准确率，实现电子产品外壳缺陷的精确监测。
专利主权项内容
1.基于计算机视觉的电子产品外壳缺陷监测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：采集电子产品图像；获取电子产品图像的反光像素点；根据反光像素点的灰度分布及出现的概率得到各像素点的区域概率反光度；根据各像素点梯度角度出现的概率得到各像素点梯度邻域正弦熵；结合各像素点梯度邻域正弦熵得到各像素点的光照梯度正弦熵；结合各像素点区域概率反光度与各像素点光照梯度正弦熵得到各像素点的区域反光系数；根据各像素点的区域反光系数获取各像素点的外壳光照影响因子；根据各像素点的外壳光照影响因子及Sauvola算法获取各像素点分割阈值，根据各像素点分割阈值得到电子产品二值化图像；根据电子产品二值化图像实现电子产品外壳缺陷监测。