一种微处理器老化智能检测方法及系统
申请人信息
- 申请人:深圳市凯威达电子有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市宝安区新安街道留仙二路(隆昌路10号)丰业源工业厂区B1、B2栋之B1栋205室
- 发明人: 深圳市凯威达电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种微处理器老化智能检测方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410081205.0 |
| 申请日 | 2024/1/19 |
| 公告号 | CN117590838A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G05B23/02 |
| 权利人 | 深圳市凯威达电子有限公司 |
| 发明人 | 蒙文钱; 刘绿野 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区新安街道留仙二路(隆昌路10号)丰业源工业厂区B1、B2栋之B1栋205室 |
摘要文本
本发明涉及数据处理技术领域，具体涉及一种微处理器老化智能检测方法及系统。该方法包括：获取引脚信号和分频时钟信号及理想波形；根据引脚信号的电压差异获取电压偏差；获取第一分信号；根据理想波形获取延时现象观察时间段，根据延时现象观察时间段的电压差异和时间段长度获取延时现象显著度；获取信号跳变间隔时间段，根据信号跳变间隔时间段的电压差异和时间长度获取毛刺现象显著度；基于此获取微处理器老化程度显著度；根据微处理器老化程度显著度获取马尔科夫转移概率矩阵，构建老化指标混乱度；根据老化指标混乱度获取老化程度指标，完成微处理器老化智能检测。本发明保持了检测的灵敏度，使对微处理器老化的检测更加灵敏准确。
专利主权项内容
1.一种微处理器老化智能检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取微处理器的引脚信号和分频时钟信号；根据引脚信号每个时刻的电压和高电平、低电平的差异获取电压偏差值，并根据一个周期内所有时刻的电压偏差值的和获取电压偏差；根据引脚信号和分频时钟信号采用AD转换算法获取理想波形，将引脚信号使用EMD分解获取第一分信号；根据理想波形获取翻转时刻，通过翻转时刻确定第一分信号的延时现象观察时间段，根据延时现象观察时间段每个时刻的电压和高电平、低电平的差异以及延时现象观察时间段的时间长度获取延时现象显著度；根据第一分信号中相邻的上升沿和下降沿获取信号跳变间隔时间段，根据信号跳变间隔时间段每个时刻的电压和高电平、低电平以及信号跳变间隔时间段的时间长度获取毛刺现象显著度；根据每一次翻转的毛刺现象显著度、延时现象显著度以及电压偏差获取每一次翻转的微处理器老化程度显著度；统计若干次翻转的微处理器老化程度显著度构成老化程度统计向量，并基于老化程度统计向量获取老化程度统计差分向量；根据老化程度统计差分向量获取马尔科夫转移概率矩阵，根据马尔科夫转移概率矩阵构建老化指标混乱度；根据老化指标混乱度确定老化窗口长度获取老化程度指标，根据老化程度指标完成微处理器老化智能检测。。来自马-克-数-据