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显示屏缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
申请人信息
- 申请人:深圳市欧灵科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市宝安区西乡街道富华社区宝运达研发综合楼1401
- 发明人: 深圳市欧灵科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 显示屏缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410140086.1 |
| 申请日 | 2024/2/1 |
| 公告号 | CN117670886A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 深圳市欧灵科技有限公司 |
| 发明人 | 谭孟旭 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区西乡街道富华社区宝运达研发综合楼1401 |
摘要文本
本发明公开了一种显示屏缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，属于缺陷检测技术领域。本发明通过采集待检测显示屏的初始光学图像；根据所述初始光学图像得到图像点坐标之间的相互映射关系，并通过所述相互映射关系对所述初始光学图像进行校正，得到处理后的光学图像；对处理后的光学图像使用动态阈值分割策略计算类间方差，并通过所述类间方差对处理后的光学图像进行感兴趣区域分割，得到分割光学图像；使用预设缺陷检测策略对所述分割光学图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，可通过预设缺陷检测策略快速准确地对显示屏进行缺陷检测，提高缺陷检测的效率和准确性。
专利主权项内容
1.一种显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述显示屏缺陷检测方法包括：采集待检测显示屏的初始光学图像；根据所述初始光学图像得到图像点坐标之间的相互映射关系，并通过所述相互映射关系对所述初始光学图像进行校正，得到处理后的光学图像；对处理后的光学图像使用动态阈值分割策略计算类间方差，并通过所述类间方差对处理后的光学图像进行感兴趣区域分割，得到分割光学图像；使用预设缺陷检测策略对所述分割光学图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。 来自：