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一种电源电子元器件的检测系统及其检测方法

申请号: CN202410186477.7
申请人: 深圳市联明电源股份有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种电源电子元器件的检测系统及其检测方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410186477.7
申请日 2024/2/20
公告号 CN117744013A
公开日 2024/3/22
IPC主分类号 G06F18/2433
权利人 深圳市联明电源股份有限公司
发明人 王建廷; 杨俊锋; 张振伟
地址 广东省深圳市宝安区松岗街道潭头社区富比伦科技厂区4号厂房301、401、501西半层、601、701

摘要文本

本发明涉及电源电子元器件技术领域,具体涉及一种电源电子元器件的检测系统及其检测方法,包括以下步骤:获取到电源电子元器件在运行过程中的检测项,并判断得到检测项信号;获取到在检测周期内,出现温度项异常信号的时段;出现湿度项异常信号的时段;计算得到检测项异常值ZJy;基于检测项异常值ZJy进行比较分析,得到影响信号;基于影响大信号,获取到周期表现值,通过周期表现值对电源电子元器件的影响进行判断;基于周期预符合信号,获取到周期偏移系数,并分析判断,得到周期符合信号或周期不符合信号,本发明不仅实现对电源电子元器件的运行检测,还可以根据检测周期得到的数据便于后续对电源电子元器件的周期性分析。

专利主权项内容

1.一种电源电子元器件的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:获取到电源电子元器件在运行过程中的检测项,并判断得到检测项信号;其中,检测项包括温度检测项和湿度检测项;检测项信号包括温度项异常信号、温度项正常信号、湿度项异常信号、湿度项正常信号;步骤2:获取到在检测周期内,出现温度项异常信号的时段,标记为温度异常时段Sw;出现湿度项异常信号的时段,标记为湿度异常时段Ss;通过公式,计算得到检测项异常值ZJy;其中,a1、a2均为权重系数;步骤3:基于检测项异常值ZJy进行比较分析,得到影响信号;其中,影响信号包括影响大信号和影响小信号;步骤4:基于影响大信号,获取到周期表现值,通过周期表现值对电源电子元器件的影响进行判断,得到周期预符合信号或周期不符合信号;步骤5:当得到周期预符合信号时,获取到周期偏移系数,该周期偏移系数包括单项影响周期偏移值ZP1、双项影响周期偏移值ZP2;通过公式,计算得到周期偏移系数XP;其中,b1、b2均为比例系数;若周期偏移系数XP小于周期偏移系数阈值时,则生成周期符合信号。 更多数据:搜索马克数据网来源: