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一种电子负载老化程度测试方法、系统及试验设备
申请人信息
- 申请人:深圳市鼎泰佳创科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田社区长城计算机厂区三期3号厂房一层、二层
- 发明人: 深圳市鼎泰佳创科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种电子负载老化程度测试方法、系统及试验设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410182642.1 |
| 申请日 | 2024/2/19 |
| 公告号 | CN117761442A |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G01R31/00 |
| 权利人 | 深圳市鼎泰佳创科技有限公司 |
| 发明人 | 梁远文; 刘超 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区石岩街道水田社区长城计算机厂区三期3号厂房一层、二层 |
摘要文本
本发明涉及电子负载分析测试技术领域，更具体地，涉及一种电子负载老化程度测试方法、系统及试验设备。该方案包括获得电子设备的拆分组合方式; 在拆分组合方式确定后，设置每个电子元器件的分解扣; 为拆分组合方式中每个电子元器件设置一个测试板卡; 在测试板卡的替代接口上设置传感器，并将采集的信号存储到在线采集区; 在启动每个电子元器件的老化测试后，逐一形成每个电子器件的老化程度评估测试结果; 获取当前时刻的老化程度评估测试结果，评估老化程度并展示。该方案通过电子负载的拆解组合，实现一种基于预设接口的测试与自适应老化测试方法，实现高效、分区域的电子负载挂接测试。
专利主权项内容
1.一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，该方法包括：获得电子设备的拆分组合方式；在拆分组合方式确定后，设置每个电子元器件的分解扣；为拆分组合方式中每个电子元器件设置一个测试板卡；在测试板卡的替代接口上设置传感器，并将采集的信号存储到在线采集区；在启动每个电子元器件的老化测试后，逐一形成每个电子器件的老化程度评估测试结果；获取当前时刻的老化程度评估测试结果，评估老化程度并展示。