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一种器件表面缺陷识别方法及识别系统
申请人信息
- 申请人:誊展精密科技(深圳)有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市宝安区松岗街道楼岗社区北边啤工业区97号201
- 发明人: 誊展精密科技(深圳)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种器件表面缺陷识别方法及识别系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410147614.6 |
| 申请日 | 2024/2/2 |
| 公告号 | CN117689962A |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | G06V10/764 |
| 权利人 | 誊展精密科技(深圳)有限公司 |
| 发明人 | 杨登丰 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区松岗街道楼岗社区北边啤工业区97号201 |
摘要文本
本申请提供一种器件表面缺陷识别方法及识别系统,拟检测器件对应的二阶缺陷类型的描述特征载体是基于代表图像信息确定得到的,由于代表图像信息可以代表二阶缺陷类型表征的图像缺陷语义,那么,基于二阶缺陷类型的代表图像信息确定二阶缺陷类型对应的描述特征载体、以及器件表面图像的图像嵌入特征,对拟检测器件进行二阶缺陷识别,获得的拟检测器件对应的目标二阶缺陷类型更加精准可靠,增加对拟检测器件的缺陷识别精度。
专利主权项内容
1.一种器件表面缺陷识别方法,其特征在于,应用于缺陷识别系统,所述方法包括:获取拟检测器件对应的器件表面图像,并基于缺陷类型识别网络的嵌入映射模块,对所述器件表面图像进行特征嵌入映射,得到所述器件表面图像对应的图像嵌入特征;基于所述缺陷类型识别网络的第一缺陷识别模块,依据所述图像嵌入特征对所述拟检测器件进行初阶缺陷识别,得到所述拟检测器件在缺陷类型树状结构中对应的目标初阶缺陷类型;其中,所述缺陷类型树状结构包括不少于两个初阶缺陷类型和对所述不少于两个初阶缺陷类型进行划分获得的多个二阶缺陷类型,每个所述二阶缺陷类型包括一个或多个代表图像信息;基于所述缺陷类型识别网络的第二缺陷识别模块,依据所述图像嵌入特征及各所述二阶缺陷类型的描述特征载体对所述拟检测器件进行二阶缺陷识别,得到所述拟检测器件对应的目标二阶缺陷类型;其中,所述描述特征载体基于相应二阶缺陷类型包括的代表图像信息确定得到,所述目标二阶缺陷类型隶属所述目标初阶缺陷类型。